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机构	日期	题名	作者
元智大學	2013	用獨立成份分析法於薄膜電晶體液晶顯示面板之製程監控與表面瑕疵檢測	曾彥馨; Yen-Hsin Tseng
元智大學	2010-03	Defect detection of uneven brightness in low-contrast images using basis image representation	曾彥馨; 蔡篤銘
元智大學	2005-12	Using independent component analysis based process monitoring in TFT-LCD manufacturing	曾彥馨; 蔡篤銘
元智大學	2005-10	應用獨立成份分析濾波器於背光板與TFT-LCD面板之瑕疵檢測	蔡篤銘; 林品杰; 曾彥馨
元智大學	2004-10	應用機器視覺於TFT面板之表面瑕疵檢測與分類	蔡篤銘; 曾彥馨
元智大學	2003	應用機器視覺於TFT面板之表面瑕疵檢測與分類	曾彥馨; Yan-Hsin Tseng

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