臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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"林呈祥"

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國立交通大學	2014-12-13T10:40:11Z	超大型積體電路電腦網路輔助設計系統---子計畫三：非同步電路設計	林呈祥
國立交通大學	2014-12-13T10:40:10Z	多晶片模組設計自動化與測試系統---子計畫一：在MCM環境下之測試樣	林呈祥
國立交通大學	2014-12-12T02:11:42Z	臺灣科技產業融資行為之實證研究	林呈祥; Lin Cheng-Hsiang; 洪志洋; Chih-Young Hung
國立臺灣大學	1998-12	A Global Parallelization Scheduling Algorithm for Automated Synthesis of Digital Systems	Chen, T.; 林呈祥; Chen, T.; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學	1996	為台灣大學院校發展一套超大型積體電路測試與可測試性設計課程總計畫─超大型積體電路測試與可測試性設計課程發展--子計畫二:障礙模擬	林呈祥
國立臺灣大學	1996	多晶片模組電性分析,系統設計及測試研究 (總計畫)III	林呈祥
國立臺灣大學	1996	多晶片模組電性分析，系統設計及測試研究─多晶片模組電性分析,系統設計及測試研究 (總計畫)III	林呈祥
國立臺灣大學	1996	多晶門模組電性分析系統設計及測試研究─多晶片模組電性分析設計及測試研究-子計畫四:在MCM環境下之測試樣本產生研究	林呈祥
國立臺灣大學	1996	非同步電路合成及設計之研究	林呈祥
國立臺灣大學	1995	多晶片模組電性分析設計測試研究─多晶片模組電性分析、設計及測試研究:子計畫五-在MCM環境下之壓縮樣本產生	林呈祥
國立臺灣大學	1995	多晶片模組電性分析設計及測試研究總計畫	林呈祥
國立臺灣大學	1995	多晶片模組電性分析設計及測試研究─多晶片模組電性分析設計及測試研究總計畫	林呈祥
國立臺灣大學	1995	非同步電路合成之研究	林呈祥
淡江大學	1994-11-16	Test time reduction for scan-designed circuits by sliding compatibility	張昭憲; Chang, Jau-shien; 林呈祥; Lin, Chen-shang
淡江大學	1994-10-02	A test clock reduction method for scan-designed circuits	張昭憲; Chang, Jau-shien; 林呈祥; Lin, Chen-shang
國立臺灣大學	1994-10	A Test Clock Reduction Method for Scan-Designed Circuits	Chang, J. S.; 林呈祥; Chang, J. S.; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學	1994-02	Direct Synthesis of Hazard-Free Asynchronous Circuits from STGs Based on Lock Relation and MG-Decomposition Approach	Lin, K. J.; Kuo, J. W.; 林呈祥; Lin, K. J.; Kuo, J. W.; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學	1994	多晶片模組設計自動化與測試系統-子計畫一: 在MCM環境下之測試樣本產生系統	林呈祥
國立臺灣大學	1994	超大型積體電路電腦網路輔助設計系統-子計畫三: 非同步電路設計合成之研究(II)	林呈祥
國立臺灣大學	1994	超大型積體電路電腦輔助設計系統I-4:非同步電路	林呈祥; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學	1994	HyHOPE:a Fast Fault Simulator with Efficient Simulation of Hypertrophic Faults	Kung, C.; 林呈祥; Kung, C.; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學	1994	Optimized Synthesis of Hazard-Free Asynchronous Circuits	Lin, K. J.; Kuo, J. W.; 林呈祥; Lin, K. J.; Kuo, J. W.; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學	1994	Reducing Hypertrophic Fault Events in Sequential Fault Simulation	Kung, C.; 林呈祥; Kung, C.; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學	1994	Test Time Reduction for Scan-Designed Circuits by Sliding Compatibility	Chang, J. S.; 林呈祥; Chang, J. S.; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學	1994	在MCM環境下之測試樣本產生系統	林少傑; 林呈祥; 林少傑; Lin, Chen-Shang

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