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機構	日期	題名	作者
國立交通大學	2014-12-12T01:56:19Z	針對奈米級CMOS設計電路提出考慮導線效應和老化效應的統計型軟性錯誤率分析的方法	林玗璇; Lin, Yu-Hsuan; 溫宏斌; Wen, Hung-Pin

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