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机构 日期 题名 作者
國立交通大學 2014-12-12T02:17:27Z 同步序向電路之測試與可測性增強之研究 梁新聰; Liang, Hsing-Chung; 李崇仁; Chung Len Lee
國立交通大學 2014-12-12T02:07:15Z 一序向電路之測試圖樣產生器 梁新聰; LIANG,XIN-CONG; 李崇仁; LI,CHONG-REN
中原大學 2010-08-17 轉態延遲障礙之高品質測試圖樣研究 梁新聰
中原大學 2010-08 Generating Test Patterns Simultaneously for Both Transition Delay and Stuck-Open Faults 梁新聰;張展魁
中原大學 2010-06 針對傳輸延遲障礙的快速決定性測試向量產生器 吳書緯;梁新聰
中原大學 2010-06 同步尋找轉態延遲及電晶體固定開路之加強型掃瞄測試圖樣 張展魁;梁新聰
中原大學 2010-06 同步尋找轉態延遲及電晶體固定開路之加強型掃瞄測試圖樣 梁新聰;張展魁
中原大學 2010-06 針對傳輸延遲障礙的快速決定性測試向量產生器 吳書緯;梁新聰
中原大學 2010-04 Design a Learning Platform for VLSI Test Plan Tools 簡宏達;梁新聰
中原大學 2010-04 電路測試設計軟體之學習平台設計 簡宏達;梁新聰
中原大學 2009-11 Reducing Test Power by Partial Gating on Scan-Chain Outputs 陸慶恩;梁新聰
中原大學 2009-11 Reducing Test Power by Partial Gating on Scan-Chain Outputs 陸慶恩;梁新聰
中原大學 2009-10-01 部份掃瞄之低功率測試方式 梁新聰; 胡家瑋
中原大學 2009-02 Improved Representatives for Judging Unrepairability and Deciding Economic Repair Solutions of Memories 梁新聰
中原大學 2005-06 Speeding up failure shape analysis for memory diagnosis 梁新聰;章志名;周煌程

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