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國立交通大學
2014-12-12T02:17:27Z
同步序向電路之測試與可測性增強之研究
梁新聰; Liang, Hsing-Chung; 李崇仁; Chung Len Lee
國立交通大學
2014-12-12T02:07:15Z
一序向電路之測試圖樣產生器
梁新聰; LIANG,XIN-CONG; 李崇仁; LI,CHONG-REN
中原大學
2010-08-17
轉態延遲障礙之高品質測試圖樣研究
梁新聰
中原大學
2010-08
Generating Test Patterns Simultaneously for Both Transition Delay and Stuck-Open Faults
梁新聰;張展魁
中原大學
2010-06
針對傳輸延遲障礙的快速決定性測試向量產生器
吳書緯;梁新聰
中原大學
2010-06
同步尋找轉態延遲及電晶體固定開路之加強型掃瞄測試圖樣
張展魁;梁新聰
中原大學
2010-06
同步尋找轉態延遲及電晶體固定開路之加強型掃瞄測試圖樣
梁新聰;張展魁
中原大學
2010-06
針對傳輸延遲障礙的快速決定性測試向量產生器
吳書緯;梁新聰
中原大學
2010-04
Design a Learning Platform for VLSI Test Plan Tools
簡宏達;梁新聰
中原大學
2010-04
電路測試設計軟體之學習平台設計
簡宏達;梁新聰
中原大學
2009-11
Reducing Test Power by Partial Gating on Scan-Chain Outputs
陸慶恩;梁新聰
中原大學
2009-11
Reducing Test Power by Partial Gating on Scan-Chain Outputs
陸慶恩;梁新聰
中原大學
2009-10-01
部份掃瞄之低功率測試方式
梁新聰; 胡家瑋
中原大學
2009-02
Improved Representatives for Judging Unrepairability and Deciding Economic Repair Solutions of Memories
梁新聰
中原大學
2005-06
Speeding up failure shape analysis for memory diagnosis
梁新聰;章志名;周煌程
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