臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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機構	日期	題名	作者
國立高雄師範大學	2009-12	Inelastic Electron Tunneling Spectroscopy Study of Ultra-Thin TiO2/Al2O3 on GaAs	Z. Liu;X.W. (Sharon) Wang;W. Zhang;Y.L. Yang;T.P. Ma; 楊宜霖
國立臺灣大學	2009	超薄氧化層純水補償技術及氫對ONO介電層可靠度之影響	楊宜霖; Yang, Yi-Lin
國立高雄師範大學	2008-12	Charge Trapping Memory Stack with Aluminum Oxide as the Tunnel Barrier	J.F Yang;X.W. (Sharon) Wang;Y.L. Yang;T.P. Ma; 楊宜霖
國立高雄師範大學	2008-09	Effect of Strain-Temperature Stress on MOS Structure with Ultra-thin Gate Oxide	C.N. Lin;Y.L. Yang;W.T. Chen;S.C. Lin;K.C. Chuang;J.G. Hwu; 楊宜霖
國立高雄師範大學	2007-12	Investigation of Strain-Temperature Stress Effects on the Characteristics of MOS Capacitors with Ultra-thin Gate Oxides	C.N. Lin;Y.L. Yang;W.T. Chen;S.C. Lin;J.G. Hwu; 楊宜霖
國立中山大學	2007-09-07	冷軋乳化液之磨潤特性研究	楊宜霖
國立高雄師範大學	2007-06	Modeling and Characterization of Hydrogen Induced Charge Loss in Nitride Trapping Memory	Y.L. Yang;C.H. Chang;Y.H. Shih;K.Y. Hsieh;J.G. Hwu; 楊宜霖
國立高雄師範大學	2006-12	Hydrogen Eraser for Tightening VT Distribution of Nitride Trapping Memory	Y.L. Yang;C.H. Chang;Y.H. Shih;K.Y. Hsieh;J.G. Hwu; 楊宜霖
國立高雄師範大學	2006-07	Impact of Strain-Temperature Stress on Ultrathin Oxide	C.W. Tung, Y.L. Yang and J.G. Hwu; 楊宜霖
國立高雄師範大學	2004-10	Quality Improvement of Ultra-Thin Gate Oxide by Using Thermal-Growth Followed by Scanning-Frequency Anodization (SF ANO) Technique	Y.L. Yang;J.G. Hwu; 楊宜霖
國立高雄師範大學	2004-09	Growth-Then-Anodization Technique for Reliable Ultra-Thin Gate Oxides	W.J. Liao;Y.L. Yang;S.C. Chuang;J.G. Hwu; 楊宜霖

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