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机构	日期	题名	作者
國立交通大學	2014-12-12T03:03:03Z	電漿製程導致先進互補式金氧半場效電晶體可靠度損壞之研究	翁武得; Weng, Wu-Te; 黃調元; 林鴻志; Huang, Tiao-Yuan; Lin, Horng-Chih
中原大學	1996	調變摻雜場效電晶體元件結構與特性之模擬分析	翁武得; Ueng, Wu-Der

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