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Institution Date Title Author
國立成功大學 2003-06-12 降低掃描電路測試時間及功率消耗之技術 陳繼展; Chen, Jih-Jeen
國立成功大學 1999-01-29 利用單一資料線之測試架構及其測試向量產生方法 李昆忠; 陳繼展; 黃正華
中華大學 1997 可替換模組之信號處理器系統設計與分析 陳繼展

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