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机构	日期	题名	作者
國立交通大學	2014-12-12T02:23:22Z	氮化矽快閃記憶體可靠性量測與分析	馬煥淇; Ma, Huan-chi; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T01:23:20Z	快閃式記憶體和金氧半電晶體元件中單一電荷所導致的可靠性議題研究	馬煥淇; Ma, Huan-Chi; 汪大暉; Wang, Tahui

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