臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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機構	日期	題名	作者
臺大學術典藏	2018-09-10T15:00:40Z	數位類比轉換器的元素的權重的估算方法、裝置及應用其之逐次逼近暫存器類比數位轉換器	陳弘易;陳昶聿;黃炫倫;黃俊郎; 陳弘易; 陳昶聿; 黃炫倫; 黃俊郎; JIUN-LANG HUANG
臺大學術典藏	2018-09-10T09:50:53Z	測試圖案最佳化的方法	吳孟帆; 黃俊郎; 溫曉青; 宮瀨紘平; JIUN-LANG HUANG; 吳孟帆; 黃俊郎; 溫曉青; 宮瀨紘平
臺大學術典藏	2018-09-10T09:50:53Z	迴路測試架構與方法	黃炫倫; 黃俊郎; 林王安; 康平穎; JIUN-LANG HUANG; 黃炫倫; 黃俊郎; 林王安; 康平穎
臺大學術典藏	2018-09-10T09:25:29Z	顯示器驅動電路之測試裝置	李權哲; 黃俊郎; 黃瑞澤; JIUN-LANG HUANG; 李權哲; 黃俊郎; 黃瑞澤
國立臺灣大學	2008-07-31	多媒體系統無線傳輸介面之研發－子計畫五：以內建自我測試為基礎的ADC/DAC校正與修復技術之研發(1/3)	黃俊郎
國立臺灣大學	2008-07-31	可應用於軟性電子的TFT電路設計技術之開發－子計畫五：適用於軟性顯示器TFT陣列的缺陷容忍技術之開發(2/3)	黃俊郎
國立臺灣大學	2008-07-31	可應用於軟性電子的TFT電路設計技術之開發－子計畫五：適用於軟性顯示器TFT陣列的缺陷容忍技術之開發(1/3)	黃俊郎
臺大學術典藏	2008-07-31	多媒體系統無線傳輸介面之研發－子計畫五：以內建自我測試為基礎的ADC/DAC校正與修復技術之研發(1/3)	黃俊郎; 黃俊郎
臺大學術典藏	2008-07-31	可應用於軟性電子的TFT電路設計技術之開發－子計畫五：適用於軟性顯示器TFT陣列的缺陷容忍技術之開發(2/3)	黃俊郎; 黃俊郎
臺大學術典藏	2006-07-26T01:59:59Z	子計劃六：可重組化運算之測試設計(I)	黃俊郎; 黃俊郎
國立臺灣大學	2005-07-31	類比前端電路的內建自我測試技術	黃俊郎
國立臺灣大學	2005-07-31	子計畫三：高速資料傳輸系統的可測試性設計技術(2/3)	黃俊郎
臺大學術典藏	2005-07-31	類比前端電路的內建自我測試技術	黃俊郎; 黃俊郎
臺大學術典藏	2005-07-31	子計畫三：高速資料傳輸系統的可測試性設計技術(2/3)	黃俊郎; 黃俊郎
國立臺灣大學	2005-02	製程偏移對可測試性設計技術效能影響的評估	陳逸任; 黃俊郎; Chen, Yi-Ren; Huang, Jiun-Lang
臺大學術典藏	2005-02	製程偏移對可測試性設計技術效能影響的評估	Chen, Yi-Ren; Huang, Jiun-Lang; 陳逸任; 黃俊郎; Chen, Yi-Ren; Huang, Jiun-Lang
國立臺灣大學	2004-07-31	子計畫四：類比前端電路的內建自我測試技術	黃俊郎
國立臺灣大學	2004-07-31	子計畫三：高速資料傳輸系統的可測試性設計技術(1/3)	黃俊郎
臺大學術典藏	2004-07-31	子計畫四：類比前端電路的內建自我測試技術	黃俊郎; 黃俊郎
臺大學術典藏	2004-07-31	子計畫三：高速資料傳輸系統的可測試性設計技術(1/3)	黃俊郎; 黃俊郎
國立臺灣大學	2003-11-30	高速串列通信傳送媒介之測試	黃俊郎
臺大學術典藏	2003-11-30	高速串列通信傳送媒介之測試	黃俊郎; 黃俊郎
國立臺灣大學	2003-07-31	子計劃六：可重組化運算之測試設計(I)	黃俊郎
國立政治大學	1967	子游學案	黃俊郎; Huang, Zun-Lang

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