臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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機構	日期	題名	作者
國立臺灣大學	2005-07-31	類比前端電路的內建自我測試技術	黃俊郎
國立臺灣大學	2005-07-31	子計畫三：高速資料傳輸系統的可測試性設計技術(2/3)	黃俊郎
臺大學術典藏	2005-07-31	類比前端電路的內建自我測試技術	黃俊郎; 黃俊郎
臺大學術典藏	2005-07-31	子計畫三：高速資料傳輸系統的可測試性設計技術(2/3)	黃俊郎; 黃俊郎
國立臺灣大學	2005-02	製程偏移對可測試性設計技術效能影響的評估	陳逸任; 黃俊郎; Chen, Yi-Ren; Huang, Jiun-Lang
臺大學術典藏	2005-02	製程偏移對可測試性設計技術效能影響的評估	Chen, Yi-Ren; Huang, Jiun-Lang; 陳逸任; 黃俊郎; Chen, Yi-Ren; Huang, Jiun-Lang
國立臺灣大學	2004-07-31	子計畫四：類比前端電路的內建自我測試技術	黃俊郎
國立臺灣大學	2004-07-31	子計畫三：高速資料傳輸系統的可測試性設計技術(1/3)	黃俊郎
臺大學術典藏	2004-07-31	子計畫四：類比前端電路的內建自我測試技術	黃俊郎; 黃俊郎
臺大學術典藏	2004-07-31	子計畫三：高速資料傳輸系統的可測試性設計技術(1/3)	黃俊郎; 黃俊郎

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