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机构	日期	题名	作者
國立成功大學	2019-02	On-Chip Self-Test Methodology With All Deterministic Compressed Test Patterns Recorded in Scan Chains	Lee;Kuen-Jong;Chen;Bo-Ren;Kochte;Andreas, Michael
國立成功大學	2017-06	Built-In Test and Diagnosis for TSVs With Different Placement Topologies and Crosstalk Impact Ranges	Hsu;Wen-Hsuan;Kochte;Andreas, Michael;Lee;Kuen-Jong

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