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机构	日期	题名	作者
中原大學	2001-01-30	Formation of finely controlled shallow trench isolation for ULSI process	Fu-Liang Yang;Bih-Tiao Lin;Wei-Ray Lin;Erik S. Jeng
中原大學	2000-10-31	Method for eliminating CMP induced microscratches	Fu-Liang Yang;Bih-Tiao Lin;Tzu-Shih Yen;Bi-Ling Chen;Erik S. Jeng
中原大學	2000-06-06	Method for simultaneously fabricating a DRAM capacitor and metal interconnections	Fu-Liang Yang;Erik S. Jeng;Bih-Tiao Lin;I-Ping Lee

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