臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

	English \| 正體中文 \| 简体中文 \| 总笔数 :0
	造访人次 : 53173427 在线人数 : 721 教育部委托研究计画计画执行:国立台湾大学图书馆

搜寻范围

进阶搜寻

登入

管理

臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

关于TAIR
	计画说明

浏览
	典藏机构
	作者
	题名
	日期
	统计图表
	机构即时统计
	学术趋势

消息
	2019臺灣學術機構典藏研討會
	機構典藏系統RC7版本已發佈

著作权
	出版社及期刊政策查询
	TAIR著作权会议记录

相关连结
	機構典藏計畫網站
	ROAR
	OpenDOAR
	SHERPA
	OAIster
	JAIRO
	Ira
	DSPACE
	RWWR
	臺大學術典藏NTU Scholars

"c h kao"的相关文件

回到依作者浏览
依题名排序	依日期排序

显示项目 36-45 / 54 (共6页)
<< < 1 2 3 4 5 6 > >>
每页显示[10|25|50]项目

机构	日期	题名	作者
國立中山大學	2000-01	Single-ended SRAM with high test coverage and short test time	C.C. Wang;C.F. Wu;R.T. Hwang; C.H. Kao
國立中山大學	2000	Single-ended SRAM with high test coverage and short test time	C.C. Wang;C.F. Wu;R.T. Hwang;C.H. Kao
國立中山大學	1999-09	In-sawing-lane multi-level BIST for known good dies of LCD drivers	C.C. Wang;C.F. Wu;S.H. Chen;C.H. Kao
國立中山大學	1999-09	A real chip used in low-cost testing modules for liquid crystal display drivers	C.C. Wang;C.F. Wu;S.H. Chen;C.H. Kao
國立中山大學	1999-07	A low-power high-speed dynamic PLA circuit configuration for single-clock CMOS	C.C. Wang;C.F. Wu; R.T. Hwang;C.H. Kao
國立中山大學	1999-01	Dynamic NOR-NOR PLA Design with IDDQ Testability	C.F. Wu;C.C. Wang;R.T. Hwang;C.H. Kao
國立中山大學	1999	In-sawing-lane multi-level BIST for known good dies of LCD drivers	C.C. Wang;C.F. Wu;S.H. Chen;C.H. Kao
國立中山大學	1999	Dynamic NOR-NOR PLA Design with IDDQ Testability	C.F. Wu;C.C. Wang;R.T. Hwang;C.H. Kao
國立中山大學	1999	A low-power high-speed dynamic PLA circuit configuration for single-clock CMOS	C.C. Wang;C.F. Wu;R.T. Hwang;C.H. Kao
國立中山大學	1998-06	Design of single-ended SRAM with high test coverage and short test time	C.F. Wu;C.C. Wang;R.T. Hwang;C.H. Kao

显示项目 36-45 / 54 (共6页)
<< < 1 2 3 4 5 6 > >>
每页显示[10|25|50]项目