臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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機構	日期	題名	作者
國立東華大學	2002	Field emission and Raman spectroscopy studies of atomic hydrogen etching on boron and nitrogen doped diamond films	Wu Y. H. ; C. M. Hsu ; C. T. Chia ; I. N. Lin ; C. L. Cheng
國立東華大學	2002	Preparation and Properties of BN/AlN Nanolaminates	Lee C.H. ; T. S. Yang ; C. M. Hsu ; C. L. Chenga ; M. S. Wong
國立東華大學	2001	Field emission and Raman spectroscopy studies of atomic hydrogen etching on boron and nitrogen doped DLC films	Wu Y. H. ; C. M. Hsu ; C. T. Chia ; I. N. Lin ; C. L. Cheng
國立政治大學	2000-01	Interactively Directing Virtual Crowds in a Virtual Environment	李蔡彥;J.W. Lin;Y.L. Liu;C.M. Hsu
南台科技大學	1998	The Trend of TFT_LCD Process System	許進明; C.M. Hsu
南台科技大學	1996	SIMS Linescan Profiling of Chemically Bevelled Semiconductors : A Method of Overcoming Ion Beam Induced Segregation in Depth Profiling	許進明; C.M. Hsu; D.S. McPhail
南台科技大學	1995	A newly developed chemical bevelling technique used for depth independent high depth resolution SIMS analysis	許進明; C. M. Hsu; D. S. McPhail
南台科技大學	1995	SIMS analysis of Al -doped GaAs test structures using chemical bevelling as a sample preparation technique	許進明; C.M. Hsu; V.K.M. Sharma; M.J. Ashwin; D.S. McPhail
南台科技大學	1995	Newly Developed Chemical Bevelling Technique Used for SIMS Analysis of GaAs based semiconductor structures	許進明; C. M. Hsu; D. S. McPhai
南台科技大學	1994	A method of improving the SIMS analysis of Si in GaAs by monitoring SiO2− ions at oblique angles of bombardment	許進明; V.K.M. Skarma; D.S. McPhail; C.M. Hsu; M.R. Fahy
南台科技大學	1993	The Application of AAS in MBE System as a Monolayer Monitor	許進明; C.M. Hsu
南台科技大學	1992	S-Gun 濺鍍系統之原理及應用	許進明; C.M. Hsu
國立中山大學	1991	Effects of Cultivation Conditions on the Cytochrome Oxidase Activities in Bacillus Thuringiensis Subsp, Israelensis HD-567	J.K. Liu;C.H. Hsu;D. Chao;C.M. Hsu
南台科技大學	1989	Low pressure chemical vapor deposition of Aluminum Nitride thin film	許進明; C.H. Lee;C.M. Hsu

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