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臺大學術典藏	2003	X-ray photoemission spectroscopy characterization of the electrode-ferroelectric interfaces in Pt/Bi4Ti3O12/Pt and Pt/Bi3.25La0.75Ti3O12/Pt capacitors: Possible influence of defect structure on fatigue properties	Brohan, L.; Gautier, E.; Caldes, T.; Ganne, M.; Chu, M.-W.

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