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机构	日期	题名	作者
國立臺灣大學	1995	Nondestructive RBSOA characterization of IGBTs and MCTs	Chen, D. Y.; Lee, F. C.; Carpenter, G.
國立臺灣大學	1994	RBSOA characterization of GTO devices	Chen, D. Y.; Carpenter, G.; Lee, F. C.
國立臺灣大學	1990	A 1800 V 300 A nondestructive tester for bipolar transistors	Carpenter, G.; Lee, F. C.; Chen, D. Y.

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