臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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機構	日期	題名	作者
元智大學	May-20	Transfer2Depth: Dual Attention Network with Transfer Learning for Monocular Depth Estimation	林智揚; Chia-Hung Yeh; Yao-Pao Huang; Chuan-Yu Chang
元智大學	Jan-20	Cognitive learning performance assessment and analysis with CSCL applied on the NetGuru platform and CSPL applied on the TAoD platform for the network	Yung-Hui Chen; Wei-Chun Lee; Chun-Hsiung Tseng; Lawrence Y. Deng; Chuan-Yu Chang; Long-He Lee
元智大學	2020/9/28	Limited-Anchor Deep Neural Network for Moving Object Detection	林智揚; Han-Yi Huang; Wei-Yang Lin; Chuan-Yu Chang; Wen-Thong Chang; Yih-Kuen Jan
元智大學	2019-05-20	Deep Learning based Moving Object Detection for Video Surveillance	林智揚; Han-Yi Huang; Wei-Yang Lin; Chien-Cheng Lee; Chuan-Yu Chang
元智大學	2019-05-20	Deep Learning based Moving Object Detection for Video Surveillance	林智揚; Han-Yi Huang; Wei-Yang Lin; Chien-Cheng Lee; Chuan-Yu Chang
國立臺灣海洋大學	2011-11	Applying Regional Level-Set Formulation to Postsawing Four-Element LED Wafer Inspection	Chun-Hsi Li; Chuan-Yu Chang; MuDer Jeng
國立臺灣海洋大學	2009-12	Wafer Defect Inspection by Neural Analysis of Region Features	Chuan-Yu Chang; Chun-Hsi Li; Yung-Chi Chang; MuDer Jeng
國立臺灣海洋大學	2009-03-31	Application of Two Hopfield Neural Networks for Automatic Four-Element LED Inspection	Chuan-Yu Chang;Chun-Hsi Li;Si-Yan Lin;MuDer Jeng
國立臺灣海洋大學	2008-02-01	Integrated Two Hopfield Neural Networks for Automatic LED Defect Inspection	Chuan-Yu Chang;Chuan-Wang Chang;Chuan-Wang Chang;Mu-Der Jeng
國立臺灣海洋大學	2008-01	Learning vector quantization neural networks for LED wafer defect inspection	Chuan-Yu Chang; Chin-Huang Chang; Chun-Hsi Li; MuDer Jeng
亞洲大學	2007-12-20	A Novel Superquadric Fitting based on Radial Euclidean Distance for 3D Objects Fitting	Wu-Chih Hu;Chuan-Yu Chang
國立臺灣海洋大學	2007-01	An unsupervised neural network approach for automatic semiconductor wafer defect inspection	Chuan-Yu Chang;ChunHsi Li;Jia-Wei Chang; MuDer Jeng
國立臺灣海洋大學	2007	Inspection Results of the Learning Vector Quantization Neural Networks Based LED Wafer Defect Inspection System	Chuan-Yu Chang;Chin-Huang Chang;Chun-Hsi Li;MuDer Jeng

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