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機構	日期	題名	作者
亞洲大學	2007-12-20	A Novel Superquadric Fitting based on Radial Euclidean Distance for 3D Objects Fitting	Wu-Chih Hu;Chuan-Yu Chang
國立臺灣海洋大學	2007-01	An unsupervised neural network approach for automatic semiconductor wafer defect inspection	Chuan-Yu Chang;ChunHsi Li;Jia-Wei Chang; MuDer Jeng
國立臺灣海洋大學	2007	Inspection Results of the Learning Vector Quantization Neural Networks Based LED Wafer Defect Inspection System	Chuan-Yu Chang;Chin-Huang Chang;Chun-Hsi Li;MuDer Jeng

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