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机构	日期	题名	作者
國立臺灣大學	2010	DFT and Minimum Leakage Pattern Generation for Static Power Reduction During Test and Burn-in	Kao, Wei-Chung; Chuang, Wei-Shun; Lin, Hsiu-Ting; Li, J.C.-M.; Manquinho, V.
國立臺灣大學	2008	Diagnosis of Multiple Scan Chain Timing Faults	Chuang, Wei-Shun; Lin, Shiu-Ting; Liu, Wei-Chih; James Li, Chien-Mo
國立臺灣大學	2007	多重掃描鏈時序錯誤診斷	莊惟舜; Chuang, Wei-Shun

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