|
English
|
正體中文
|
简体中文
|
總筆數 :0
|
|
造訪人次 :
51786445
線上人數 :
898
教育部委託研究計畫 計畫執行:國立臺灣大學圖書館
|
|
|
"chuen sheng cheng"的相關文件
顯示項目 111-120 / 143 (共15頁)
<< < 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 > >>
每頁顯示[10|25|50]項目
| 元智大學 |
2012-08 |
Using neural network to predict current gain of III-V compound semiconductor epitaxy wafer
|
Chen, P. W. 陳佩雯; Lee, T. C. 李聰智; Chuen-Sheng Cheng |
| 元智大學 |
2012-07 |
Identifying the out-of-control variables of multivariate control chart using ensemble SVM classifiers
|
Chuen-Sheng Cheng; Lee, H. T. |
| 元智大學 |
2012-07 |
Identifying the out-of-control variables of multivariate control chart using ensemble SVM classifiers
|
Chuen-Sheng Cheng; Lee, H. T |
| 元智大學 |
2012-06 |
Early validation method for reliability growth based on environmental stress screening
|
Chuen-Sheng Cheng; Kuan, C. M. |
| 元智大學 |
2012-04 |
The application of design for Six Sigma on high level smart phone development
|
Chuen-Sheng Cheng; Lee, S. C; Chen, P. W.; Huang, K. K. |
| 元智大學 |
2012-04 |
The application of design for Six Sigma on high level smart phone development
|
李世傑(Shih-Chieh Lee); 陳佩雯(Shih-Chieh Lee); 黃國格(Kuo-Ko Huang); Chuen-Sheng Cheng |
| 元智大學 |
2012 |
Early validation method for reliability growth based on environmental stress screening
|
Chuen-Sheng Cheng; Kuan, C. M. |
| 元智大學 |
2012 |
Increasing the sensitivity of cumulative quality control charts for monitoring high-yield process with runs rules
|
Chen, P. W.; Chuen-Sheng Cheng; Chen, S. J. |
| 元智大學 |
2011-12-10 |
應用資料探勘技術於面板異常問題處理之實證研究
|
陳佩雯; 黃國格; 劉志洪; Chuen-Sheng Cheng |
| 元智大學 |
2011-12-10 |
應用整體式分類模型辨識多變量製程變異性異常來源之研究
|
陳佩雯; 李虹葶; 林志鴻; Chuen-Sheng Cheng |
顯示項目 111-120 / 143 (共15頁)
<< < 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 > >>
每頁顯示[10|25|50]項目
|
