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機構	日期	題名	作者
朝陽科技大學	2017-07	Reclaim wafer defect classification using Large-scale BPNs with TensorFlow	Fang-Chih Tien; Mei-Ling Liu; Chun-Yuan Cheng; Chun-Chin Hsu
國立交通大學	2014-12-12T01:16:36Z	動態調整EWMA控制器之發展與評估	許俊欽; Chun-Chin Hsu; 蘇朝墩; Chao-Ton Su
國立交通大學	2014-12-08T15:07:05Z	Intelligent ICA-SVM fault detector for non-Gaussian multivariate process monitoring	Chun-Chin, Hsu; Mu-Chen, Chen; Long-Sheng, Chen

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