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机构	日期	题名	作者
元智大學	2011-04	Impact of Edge Encroachment on Programming and Erasing Gate Current in NAND-Type Flash Memory	Ji-Ting Liang; Chun-Hsing Shih; Wei Chang; Yan-Xiang Luo; Ming-Kun Huang; Nguyen Dang Chien,; Wen-Fa Wu; SAUMOU WU; Chenhsin Lien; Riichiro Shirota; Chiu-Tsung Huang; Su Lu; Alex Wang

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