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機構	日期	題名	作者
元智大學	2009-08	A Novel Ontology-Based Knowledge Engineering Approach for Yield Symptom Identification in Semiconductor Manufacturing	范治民; Fang-Hsiang Su; Shi-Chung Chang; Ya-Jung Tsai; Jethro Jheng; Ching-Pin Kao; Chun-Yao Lu
元智大學	2008-10	Knowledge Engineering of Analysis Tool Application Processes for Yield Symptom Identification	范治民; Fang-Hsiang Su; Shi-Chung Chang; Ya-Jung Tsai; Chun-Yao Lu

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