| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:20:38Z |
以N2O氣體之快速加熱氮化於複晶矽氧化層及薄膜電晶體之研究
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高泉豪; Kao Chyuan-Haur; 李崇仁; Chung-Len Lee |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:20:38Z |
場射電晶體之模型與深次微米超大型積體電路之靜態電流測試
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盧志文; Chih-Wen Lu; 李崇仁; Chung Len Lee |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:17:27Z |
數位電路之延遲測試與障礙模擬
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吳文慶; Wu, Wen Ching; 李崇仁; Chung Len Lee |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:17:27Z |
一個測試圖樣平行障礙平行序向邏輯電路障礙模擬硬體加速器之實現
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李增煌; Lee, Ten_Hwang; 李崇仁; Chung-Len Lee |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:17:27Z |
同步序向電路之測試與可測性增強之研究
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梁新聰; Liang, Hsing-Chung; 李崇仁; Chung Len Lee |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:15:37Z |
低溫(850C)N2O製程在金氧半場效電晶體及薄膜電晶體製造上的應用
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林進福; Lin, Jin-Fu; 李崇仁; Chung-Len Lee |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:15:33Z |
於VLSI上AlSiCu/TiN/Ti之接觸系統
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曾令旭; Tsang, Ling Yuk; 李崇仁; Chung-Len Lee |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:15:29Z |
交換網路的測試與容錯設計
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林鴻文; Lin, Hung Wen; 李崇仁; Chung Len Lee |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:15:29Z |
CMOS運算放大器之函數測試圖樣產生法
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張順志; Chang, Soon Jyh; 李崇仁; Chung Len Lee |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:13:50Z |
使用軟體指令運算的障礙模擬器
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周宗平; Tzung-Ping Chou; 李崇仁; Chung-Len Lee |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:13:50Z |
奇偶排序網路的障礙診斷
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胡志維; Chih-Wei Hu; 李崇仁; Chung-Len Lee |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:13:46Z |
NH3退火效應在複晶矽薄膜電晶體上之研究
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顏文正; Wen-Cheng Yen; 李崇仁; Chung-Len Lee |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:13:38Z |
通用測試集的產生及應用
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陳碧茵; Beyin Chen; 李崇仁; Chung Len Lee |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:13:38Z |
簡化序向電路測試之研究
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許孟烈; Meng-Lieh Sheu; 李崇仁; Chung-Len Lee |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:13:38Z |
多值邏輯電路的測試及多階級合成之研究
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王慧民; Hui-Min Wang; 李崇仁; Chung-Len Lee |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:12:14Z |
一應用於靜態供電電流之內建式電流感應器
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鄭啟政; Chie-Cheng Cheng; 李崇仁; Chung-Len Lee |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:12:14Z |
使用二元樹和多元樹來做自動測試圖樣產生器
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陳淵傑; Yuan-Jie Chen; 李崇仁; Chung-Len Lee |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:12:12Z |
一個測試圖樣平行障礙平行序向邏輯電路障礙模擬硬體加速器
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謝宗宏; Tzong-Honge Shieh; 李崇仁; Chung-Len Lee |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:12:07Z |
基於光罩式唯讀記憶體架構之省時結構化測試法
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吳聰志; Tsung-Chin Wu; 李崇仁; Chung-Len Lee |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:12:04Z |
分散式處理的序向電路測試圖樣產生器
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王信華; Sin-Hwa Wang; 李崇仁; Chung-Len Lee |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:10:44Z |
以內容地址記憶器架構且基於單ㄧ事件等效的序向障礙模擬
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林仲晟; Chung-Cheng Lin; 李崇仁; Chung-Len Lee |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:10:44Z |
基於測試圖樣產生之序向電路的部分掃描設計
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王哲元; Che-Yuan Wang; 李崇仁; Chung-Len Lee |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:10:41Z |
複晶矽薄膜電晶體通道摻雜與氫化效應之研究
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曾皇文; Huang-Wen Tseng; 雷添福; 李崇仁; Tan-Fu Lei; Chung-Len Lee |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:10:41Z |
由薄複晶矽經熱氧化或熱氮化所製備之穿隧氧化層
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焦德民; Der-Min Chiao; 雷添福; 李崇仁; Tan-Fu Lei; Chung-Len Lee |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:10:39Z |
複晶矽電阻係數之研究
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吳怡璜; Yi-Huang Wu; 李崇仁; 雷添福; Chung-Len Lee; Tan-Fu Lei |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:10:37Z |
可自我診斷的內建自我測試電路記憶體設計
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牟慶聰; Chin-tsung Mo; 李崇仁; Chung-Len Lee |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:03:30Z |
以振盪信號測試超大型積體電路之串音障礙
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吳明學; Ming-Shae Wu; 李崇仁; Chung Len Lee |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T01:24:59Z |
使用數位測試機台進行類比動態測試技術
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章即時; Chi-Shih Chang; 李崇仁; 蘇朝琴; Chung-Len Lee; Chau-Chin Su |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T01:24:35Z |
相容於IEEE Std. 1149.4 類比自我測試方法
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涂德松; Te-Sung, Tu; 李崇仁; 蘇朝琴; Chung-Len, Lee; Chau-Chin, Su |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T01:24:29Z |
可測試性設計與內建自我測試技術於有線等效保密智財之應用與研究
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林隆裕; Lung-Yu Lin; 李崇仁; Chung-Len Lee |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T01:21:56Z |
鎳矽化物應用在奈米金氧半導體元件技術之研究
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李宗霖; Tsung-Lin Lee; 李崇仁; 雷添福; Chung-Len Lee; Tan-Fu Lei |
| 中原大學 |
2000-09 |
Flip-Flop Selection for Mixed Scan and Reset Design Based on Test Generation and Structure of Sequential Circuits
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Hsing-Chung Liang;Chung Len Lee |
| 中原大學 |
1997-09 |
Identifying Invalid States for Sequential Circuit Test Generation
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Hsing-Chung Liang;Chung Len Lee;Jwu E Chen |
| 中原大學 |
1995-09 |
Identifying Untestable Faults in Sequential Circuits
|
Hsing-Chung Liang;Chung Len Lee;Jwu E Chen |
| 國立中山大學 |
1985-05 |
A Logic/Timing Simulator for Digital MOSIC
|
Jyi-Tsong Lin;Chein-Wei Jen;Wen-Zen Shen;Chung-Len Lee |
