國立交通大學 |
2014-12-12T02:30:48Z |
一個基於路徑延遲慣量之新延遲障礙測試方法
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陳俊良; Chung-Liang Chen; 李崇仁; Chung-Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:30:38Z |
高線性度壓控振盪器的分析及實作
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楊家豪; Chia Hao Yang; 李崇仁; Chung Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:29:36Z |
液晶顯示器之原始資料驅動IC測試-故障模型與測試方法
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邱垂勳; chui-shun chiu; 李 崇 仁; Chung Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:28:07Z |
鎖相迴路障礙診斷之可測試性電路設計
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楊景翔; Ching Hsiang Yang; 李崇仁; Chung Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:28:06Z |
數位類比轉換器之內建測試電路研究
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陳冠勳; Guan-Xun Chen; 李崇仁; Chung-Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:26:43Z |
低耗能並考慮低成本效益之系統晶片測試策略
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林世平; Shih Ping Lin; 李崇仁; Chung-Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:26:21Z |
應用於CMOS電路測試之內建熱加速自我測試電路
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劉坪; Ping Liu; 李崇仁; Chung Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:26:03Z |
振盪環測試應用於非同步序向電路
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林俊言; Chun Yen Lin; 李崇仁; Chung Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:25:33Z |
二氧化鋯氧化層之磁滯現象與直/交流可靠性研究
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喬世豪; Shih-Hao Chiao; 李崇仁; Chung-Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:25:30Z |
數位序向電路之振盪環測試
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江耀玄; Yiau-Shiuan Jiang; 李崇仁; Chung-Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:25:27Z |
以振盪環測試方式測試系統晶片環境下的內連線
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劉伯崧; Bor-Song Liu; 李崇仁; Chung-Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:23:32Z |
Delta-Sigma調變器之錯誤診斷
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陳威憲; Wei-Xian Chen; 李崇仁; Chung-Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:23:17Z |
氬離子植入及百萬電子伏特之質子照射在超大型積體電路上的應用
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李隆盛; Lurng Shehng Lee; 李崇仁; Chung Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:23:12Z |
利用振盪源測試來偵測位於數位電路中的藕合障礙
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張志鵬; Chi Peng Chang; 李崇仁; Chung Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:23:12Z |
鎖相迴路中的雜訊對頻率漂移影響之研究
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李敬贊; Ching-Tsan Lee; 李崇仁; Chung-Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:23:10Z |
於邊界掃描環境下使用振盪源之延遲障礙測試方法與架構
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陳德昭; Tek-Jau Tan; 李崇仁; Chung-Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:23:04Z |
記憶體靜態電流測試
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李坤地; Kun-Ti Lee; 李崇仁; Chung Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:20:51Z |
於 CMOS細胞單元電路之雜波傳播及處理雜波之時序模型
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吳憲宏; Hsien Hung Wu; 李崇仁; Chung Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:20:50Z |
多值邏輯電路與運算放大器之合成與障礙模型
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張永嘉; Yeong-Jar Chang; 李崇仁; Chung Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:20:46Z |
於氟離子佈植之矽基板上製備之超薄閘極氧化層
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柯慶忠; Ching-Chung Ko; 李崇仁; Chung-Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:20:38Z |
以N2O氣體之快速加熱氮化於複晶矽氧化層及薄膜電晶體之研究
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高泉豪; Kao Chyuan-Haur; 李崇仁; Chung-Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:20:38Z |
場射電晶體之模型與深次微米超大型積體電路之靜態電流測試
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盧志文; Chih-Wen Lu; 李崇仁; Chung Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:17:27Z |
數位電路之延遲測試與障礙模擬
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吳文慶; Wu, Wen Ching; 李崇仁; Chung Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:17:27Z |
一個測試圖樣平行障礙平行序向邏輯電路障礙模擬硬體加速器之實現
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李增煌; Lee, Ten_Hwang; 李崇仁; Chung-Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:17:27Z |
同步序向電路之測試與可測性增強之研究
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梁新聰; Liang, Hsing-Chung; 李崇仁; Chung Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:15:37Z |
低溫(850C)N2O製程在金氧半場效電晶體及薄膜電晶體製造上的應用
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林進福; Lin, Jin-Fu; 李崇仁; Chung-Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:15:33Z |
於VLSI上AlSiCu/TiN/Ti之接觸系統
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曾令旭; Tsang, Ling Yuk; 李崇仁; Chung-Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:15:29Z |
交換網路的測試與容錯設計
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林鴻文; Lin, Hung Wen; 李崇仁; Chung Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:15:29Z |
CMOS運算放大器之函數測試圖樣產生法
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張順志; Chang, Soon Jyh; 李崇仁; Chung Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:13:50Z |
使用軟體指令運算的障礙模擬器
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周宗平; Tzung-Ping Chou; 李崇仁; Chung-Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:13:50Z |
奇偶排序網路的障礙診斷
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胡志維; Chih-Wei Hu; 李崇仁; Chung-Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:13:46Z |
NH3退火效應在複晶矽薄膜電晶體上之研究
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顏文正; Wen-Cheng Yen; 李崇仁; Chung-Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:13:38Z |
通用測試集的產生及應用
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陳碧茵; Beyin Chen; 李崇仁; Chung Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:13:38Z |
簡化序向電路測試之研究
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許孟烈; Meng-Lieh Sheu; 李崇仁; Chung-Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:13:38Z |
多值邏輯電路的測試及多階級合成之研究
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王慧民; Hui-Min Wang; 李崇仁; Chung-Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:12:14Z |
一應用於靜態供電電流之內建式電流感應器
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鄭啟政; Chie-Cheng Cheng; 李崇仁; Chung-Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:12:14Z |
使用二元樹和多元樹來做自動測試圖樣產生器
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陳淵傑; Yuan-Jie Chen; 李崇仁; Chung-Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:12:12Z |
一個測試圖樣平行障礙平行序向邏輯電路障礙模擬硬體加速器
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謝宗宏; Tzong-Honge Shieh; 李崇仁; Chung-Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:12:07Z |
基於光罩式唯讀記憶體架構之省時結構化測試法
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吳聰志; Tsung-Chin Wu; 李崇仁; Chung-Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:12:04Z |
分散式處理的序向電路測試圖樣產生器
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王信華; Sin-Hwa Wang; 李崇仁; Chung-Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:10:44Z |
以內容地址記憶器架構且基於單ㄧ事件等效的序向障礙模擬
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林仲晟; Chung-Cheng Lin; 李崇仁; Chung-Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:10:44Z |
基於測試圖樣產生之序向電路的部分掃描設計
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王哲元; Che-Yuan Wang; 李崇仁; Chung-Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:10:41Z |
複晶矽薄膜電晶體通道摻雜與氫化效應之研究
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曾皇文; Huang-Wen Tseng; 雷添福; 李崇仁; Tan-Fu Lei; Chung-Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:10:41Z |
由薄複晶矽經熱氧化或熱氮化所製備之穿隧氧化層
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焦德民; Der-Min Chiao; 雷添福; 李崇仁; Tan-Fu Lei; Chung-Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:10:39Z |
複晶矽電阻係數之研究
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吳怡璜; Yi-Huang Wu; 李崇仁; 雷添福; Chung-Len Lee; Tan-Fu Lei |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:10:37Z |
可自我診斷的內建自我測試電路記憶體設計
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牟慶聰; Chin-tsung Mo; 李崇仁; Chung-Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T02:03:30Z |
以振盪信號測試超大型積體電路之串音障礙
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吳明學; Ming-Shae Wu; 李崇仁; Chung Len Lee |
國立交通大學 |
2014-12-12T01:24:59Z |
使用數位測試機台進行類比動態測試技術
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章即時; Chi-Shih Chang; 李崇仁; 蘇朝琴; Chung-Len Lee; Chau-Chin Su |
國立交通大學 |
2014-12-12T01:24:35Z |
相容於IEEE Std. 1149.4 類比自我測試方法
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涂德松; Te-Sung, Tu; 李崇仁; 蘇朝琴; Chung-Len, Lee; Chau-Chin, Su |
國立交通大學 |
2014-12-12T01:24:29Z |
可測試性設計與內建自我測試技術於有線等效保密智財之應用與研究
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林隆裕; Lung-Yu Lin; 李崇仁; Chung-Len Lee |