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机构	日期	题名	作者
國立交通大學	2018-01-24T07:43:25Z	三維電晶體由製程與長時間操作導致電特性變異之多面向探討	謝易叡; 莊紹勳; Hsieh, E-Ray; Chung, Steve
國立交通大學	2017-04-21T06:49:30Z	The Path Finding of Gate Dielectric Breakdown in Advanced High-k Metal-Gate CMOS Devices	Chung, Steve
國立交通大學	2014-12-12T01:37:24Z	二位元分離式閘極氮化矽快閃式記憶體之漏電機制探討	何永涵; Ho, Yung-Hang; 莊紹勳; Chung, Steve
國立交通大學	2014-12-12T01:37:14Z	二氧化鉿基底電阻式記憶體之動態轉換物理模型	曾元宏; Tseng, Yuan-Hong; 莊紹勳; Chung, Steve

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