臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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國立交通大學	2014-12-13T10:43:18Z	先進奈米應力結構CMOS元件性能與可靠性變異之研究	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:42:09Z	下一世代高性能及高可靠性的N通道MOS元件設計及量測技術探討	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:41:33Z	先進奈米應力結構CMOS元件性能與可靠性變異之研究	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:40:23Z	次微米MOS元件在非熱平衡下含氧化層傷害之熱電子閘極電流模式	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:39:39Z	EPROM記憶元件中熱電子效應的可靠性研究	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:39:34Z	先進低電壓低功率及高效能快閃式記憶體之研究(I)	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:39:32Z	高介電閘氧化層深次微米MOS元件電漿製程傷害可靠性之研究	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:39:22Z	次微米MOS元件中反向短通道效應特性分析與模式	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:39:09Z	具有反向短通道效應N型MOS元件性能及可靠性的研究	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:39:03Z	快閃式記憶元件熱電子效應的可靠性分析	莊紹勳; Chung Steve S

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