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"chung steve s"
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| 國立交通大學 |
2014-12-12T01:55:13Z |
CMOS製程相容U型多重讀寫氮化矽快閃式記憶體之物理機制與可靠性探討
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蔡政達; Tsai, Cheng-Ta; 莊紹勳; Chung, Steve S. |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T01:55:06Z |
使用新的量測方法探討三面閘極金氧半電晶體 氧化層隨機陷阱造成之擾動效應
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蔡漢旻; Tsai, Hanmin; 莊紹勳; Chung, Steve S. |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T01:37:27Z |
決定高效能蕭特基金氧半場效應電晶體傳輸參數的新實驗方法
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鄭士嵩; Cheng, Xhiz-Song; 莊紹勳; Chung, Steve S. |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T01:37:18Z |
應變矽CMOS元件中隨機摻雜與隨機界面缺陷引起的臨界電壓變異度研究
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程政穎; Cheng, Cheng-Ying; 莊紹勳; Chung, Steve-S. |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T01:27:11Z |
二氧化鉿薄膜電阻式隨機存取記憶體之轉換機制及可靠度探討
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王振鵬; Wang, Jen-Peng; 莊紹勳; Chung, Steve S. |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T01:27:07Z |
隨機電報訊號量測於高閘極介電層N通道金氧半電晶體汲極電流波動之探討
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張健宏; Chang, Chien-Hung; 莊紹勳; Chung, Steve S. |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T01:27:03Z |
奈米級蕭特基金氧半場效電晶體之載子傳輸特性與通道背向散射研究
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鄧安舜; Teng, An-Shun; 莊紹勳; Chung, Steve S. |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T01:27:01Z |
隨機電報訊號量測法應用於前瞻CMOS元件應變技術引致的汲極電流不穩定性之研究
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林米華; Lin, Mi-Hua; 莊紹勳; Chung, Steve S. |
| 國立交通大學 |
2014-12-08T15:48:21Z |
New Observation of an Abnormal Leakage Current in Advanced CMOS Devices with Short Channel Lengths Down to 50nm and Beyond
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Hsieh, E. R.; Chung, Steve S.; Lin, Y. H.; Tsai, C. H.; Liu, P. W.; Tsai, C. T.; Ma, G. H.; Chien, S. C.; Sun, S. W. |
| 國立交通大學 |
2014-12-08T15:47:46Z |
The investigation of charge loss mechanism in a two-bit wrapped-gate nitride storage nonvolatile memory
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Ho, Y. H.; Chung, Steve S.; Chen, H. H. |
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