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機構	日期	題名	作者
國立交通大學	2014-12-12T01:55:13Z	CMOS製程相容U型多重讀寫氮化矽快閃式記憶體之物理機制與可靠性探討	蔡政達; Tsai, Cheng-Ta; 莊紹勳; Chung, Steve S.
國立交通大學	2014-12-12T01:55:06Z	使用新的量測方法探討三面閘極金氧半電晶體氧化層隨機陷阱造成之擾動效應	蔡漢旻; Tsai, Hanmin; 莊紹勳; Chung, Steve S.
國立交通大學	2014-12-12T01:37:27Z	決定高效能蕭特基金氧半場效應電晶體傳輸參數的新實驗方法	鄭士嵩; Cheng, Xhiz-Song; 莊紹勳; Chung, Steve S.
國立交通大學	2014-12-12T01:37:18Z	應變矽CMOS元件中隨機摻雜與隨機界面缺陷引起的臨界電壓變異度研究	程政穎; Cheng, Cheng-Ying; 莊紹勳; Chung, Steve-S.
國立交通大學	2014-12-12T01:27:11Z	二氧化鉿薄膜電阻式隨機存取記憶體之轉換機制及可靠度探討	王振鵬; Wang, Jen-Peng; 莊紹勳; Chung, Steve S.
國立交通大學	2014-12-12T01:27:07Z	隨機電報訊號量測於高閘極介電層N通道金氧半電晶體汲極電流波動之探討	張健宏; Chang, Chien-Hung; 莊紹勳; Chung, Steve S.
國立交通大學	2014-12-12T01:27:03Z	奈米級蕭特基金氧半場效電晶體之載子傳輸特性與通道背向散射研究	鄧安舜; Teng, An-Shun; 莊紹勳; Chung, Steve S.
國立交通大學	2014-12-12T01:27:01Z	隨機電報訊號量測法應用於前瞻CMOS元件應變技術引致的汲極電流不穩定性之研究	林米華; Lin, Mi-Hua; 莊紹勳; Chung, Steve S.
國立交通大學	2014-12-08T15:48:21Z	New Observation of an Abnormal Leakage Current in Advanced CMOS Devices with Short Channel Lengths Down to 50nm and Beyond	Hsieh, E. R.; Chung, Steve S.; Lin, Y. H.; Tsai, C. H.; Liu, P. W.; Tsai, C. T.; Ma, G. H.; Chien, S. C.; Sun, S. W.
國立交通大學	2014-12-08T15:47:46Z	The investigation of charge loss mechanism in a two-bit wrapped-gate nitride storage nonvolatile memory	Ho, Y. H.; Chung, Steve S.; Chen, H. H.
國立交通大學	2014-12-08T15:45:54Z	The Observation of Trapping and Detrapping Effects in High-k Gate Dielectric MOSFETs by a New Gate Current Random Telegraph Noise (I(G)-RTN) Approach	Chang, C. M.; Chung, Steve S.; Hsieh, Y. S.; Cheng, L. W.; Tsai, C. T.; Ma, G. H.; Chien, S. C.; Sun, S. W.
國立交通大學	2014-12-08T15:45:53Z	More Strain and Less Stress- The Guideline for Developing High-End Strained CMOS Technologies with Acceptable Reliability	Chung, Steve S.; Hsieh, E. R.; Huang, D. C.; Lai, C. S.; Tsai, C. H.; Liu, P. W.; Lin, Y. H.; Tsai, C. T.; Ma, G. H.; Chien, S. C.; Sun, S. W.
國立交通大學	2014-12-08T15:39:25Z	The Understanding of Strain-Induced Device Degradation in Advanced MOSFETs with Process-Induced Strain Technology of 65nm Node and Beyond	Lin, M. H.; Hsieh, E. R.; Chung, Steve S.; Tsai, C. H.; Liu, P. W.; Lin, Y. H.; Tsai, C. T.; Ma, G. H.
國立交通大學	2014-12-08T15:36:22Z	The understanding of the drain-current fluctuation in a silicon-carbon source-drain strained n-channel metal-oxide-semiconductor field-effect transistors	Hsieh, E. R.; Chung, Steve S.
國立交通大學	2014-12-08T15:33:48Z	The Variability Issues in Small Scale Trigate CMOS Devices: Random Dopant and Trap Induced Fluctuations	Chung, Steve S.
國立交通大學	2014-12-08T15:33:16Z	Experimental Observation on the Random Dopant Fluctuation of Small Scale Trigate CMOS Devices	Chung, Steve S.
國立交通大學	2014-12-08T15:32:43Z	The Understanding of the Bulk Trigate MOSFET's Reliability Through the Manipulation of RTN Traps	Hsieh, E. R.; Wu, P. C.; Chung, Steve S.; Tsai, C. H.; Huang, R. M.; Tsai, C. T.
國立交通大學	2014-12-08T15:32:12Z	The Physical Insights Into an Abnormal Erratic Behavior in the Resistance Random Access Memory	Huang, Y. J.; Chung, Steve S.; Lee, H. Y.; Chen, Y. S.; Chen, F. T.; Gu, P. Y.; Tsai, M. -J.
國立交通大學	2014-12-08T15:30:46Z	The Understanding of Multi-level RTN in Trigate MOSFETs Through the 2D Profiling of Traps and Its Impact on SRAM Performance: A New Failure Mechanism Found	Hsieh, E. R.; Tsai, Y. L.; Chung, Steve S.; Tsai, C. H.; Huang, R. M.; Tsai, C. T.
國立交通大學	2014-12-08T15:29:05Z	Low Voltage and High Speed SONOS Flash Memory Technology: The Strategies and the Reliabilities	Chung, Steve S.
國立交通大學	2014-12-08T15:28:53Z	The mechanisms of random trap fluctuation in metal oxide semiconductor field effect transistors	Hsieh, E. R.; Chung, Steve S.
國立交通大學	2014-12-08T15:28:09Z	Extension of Moore's Law Via Strained Technologies-The Strategies and Challenges	Chung, Steve S.
國立交通大學	2014-12-08T15:25:08Z	Reliability issues for high performance nanoscale CMOS technologies with channel mobility enhancing schemes	Chung, Steve S.
國立交通大學	2014-12-08T15:24:57Z	New observations on the uniaxial and biaxial strain-induced hot carrier and NBTI Reliabilities for 65nm node CMOS devices and beyond	Chung, Steve S.; Huang, D. C.; Tsai, Y. J.; Lai, C. S.; Tsai, C. H.; Liu, P. W.; Lin, Y. H.; Tsai, C. T.; Ma, G. H.; Chien, S. C.; Sun, S. W.
國立交通大學	2014-12-08T15:24:57Z	Understanding of the leakage components and its correlation to the oxide scaling on the SONOS cell endurance and retention	Chen, C. H.; Chiang, P. Y.; Chung, Steve S.; Chen, Terry; Chou, George C. W.; Chu, C. H.
國立交通大學	2014-12-08T15:22:00Z	A New Observation of Strain-Induced Slow Traps in Advanced CMOS Technology with Process-Induced Strain Using Random Telegraph Noise Measurement	Lin, M. H.; Hsieh, E. R.; Chung, Steve S.; Tsai, C. H.; Liu, P. W.; Lin, Y. H.; Tsai, C. T.; Ma, G. H.
國立交通大學	2014-12-08T15:21:56Z	Design of High-Performance and Highly Reliable nMOSFETs with Embedded Si:C S/D Extension Stressor(Si:C S/D-E)	Chung, Steve S.; Hsieh, E. R.; Liu, P. W.; Chiang, W. T.; Tsai, S. H.; Tsai, T. L.; Huang, R. M.; Tsai, C. H.; Teng, W. Y.; Li, C. I.; Kuo, T. F.; Wang, Y. R.; Yang, C. L.; Tsai, C. T.; Ma, G. H.; Chien, S. C.; Sun, S. W.
國立交通大學	2014-12-08T15:21:21Z	A New and Simple Experimental Approach to Characterizing the Carrier Transport and Reliability of Strained CMOS Devices in the Quasi-Ballistic Regime	Hsieh, E. R.; Chung, Steve S.; Liu, P. W.; Chiang, W. T.; Tsai, C. H.; Teng, W. Y.; Li, C. I.; Kuo, T. F.; Wang, Y. R.; Yang, C. L.; Tsai, C. T.; Ma, G. H.
國立交通大學	2014-12-08T15:20:29Z	New Observations on the Physical Mechanism of Vth-Variation in Nanoscale CMOS Devices After Long Term Stress	Hsieh, E. R.; Chung, Steve S.; Tsai, C. H.; Huang, R. M.; Tsai, C. T.; Liang, C. W.
國立交通大學	2014-12-08T15:16:50Z	The incremental frequency charge pumping method: Extending the CMOS ultra-thin gate oxide measurement down to 1nm	Chung, Steve S.
國立交通大學	2014-12-08T15:10:38Z	The investigation of capture/emission mechanism in high-k gate dielectric soft breakdown by gate current random telegraph noise approach	Chung, Steve S.; Chang, C. M.
國立交通大學	2014-12-08T15:10:03Z	The channel backscattering characteristics of sub-100nm CMOS devices with different channel/substrate orientations	Tsai, Y. J.; Chung, Steve S.; Liu, P. W.; Tsai, C. H.; Lin, Y. H.; Tsai, C. T.; Ma, G. H.; Chien, S. C.; Sun, S. W.
國立交通大學	2014-12-08T15:09:24Z	Novel ultra-low voltage and high-speed programming/erasing schemes for SONOS flash memory with excellent data retention	Chung, Steve S.; Tseng, Y. H.; Lai, C. S.; Hsu, Y. Y.; Ho, Eric; Chen, Terry; Peng, L. C.; Chu, C. H.
國立交通大學	2014-12-08T15:07:36Z	Technology roadmaps on the ballistic transport in strain engineered nanoscale CMOS devices	Chung, Steve S.; Tsai, Y. J.; Tsai, C. H.; Liu, P. W.; Lin, Y. H.; Tsai, C. T.; Ma, G. H.; Chien, S. C.; Sun, S. W.
國立交通大學	2014-12-08T15:07:17Z	The proximity of the strain induced effect to improve the electron mobility in a silicon-carbon source-drain structure of n-channel metal-oxide-semiconductor field-effect transistors	Hsieh, E. R.; Chung, Steve S.
國立交通大學	2014-12-08T15:03:20Z	The State-of-the-Art Mobility Enhancing Schemes for High-Performance Logic CMOS Technologies	Chung, Steve S.

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