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| 國立交通大學 |
2018-08-21T05:57:09Z |
The Issues on the Power Consumption of Trigate FinFET: The Design and Manufacturing Guidelines
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Chung, Steve S.; Hsieh, E. R. |
| 國立交通大學 |
2018-08-21T05:57:09Z |
The Impact of TiN Barrier on the NBTI in an Advanced High-k Metal-gate p-channel MOSFET
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Huang, D. -C.; Hsieh, E. Ray; Gong, J.; Huang, C. -F.; Chung, Steve S. |
| 國立交通大學 |
2018-08-21T05:57:00Z |
The Guideline on Designing Face-tunneling FET for Large-scale-device Applications in IoT
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Hsieh, E. R.; Lee, J. W.; Lee, M. H.; Chung, Steve S. |
| 國立交通大學 |
2018-08-21T05:56:52Z |
A Novel Design of P-N Staggered Face-tunneling TFET Targeting for Low Power and Appropriate Performance Applications
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Hsieh, E. R.; Fan, Y. C.; Chang, K. Y.; Liu, C. H.; Chien, C. H.; Chung, Steve S. |
| 國立交通大學 |
2018-08-21T05:56:52Z |
Geometric Variation: A Novel Approach to Examine the Surface Roughness and the Line Roughness Effects in Trigate FinFETs
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Hsieh, E. R.; Fan, Y. C.; Liu, C. H.; Chung, Steve S.; Huang, R. M.; Tsai, C. T.; Yew, T. R. |
| 國立交通大學 |
2018-08-21T05:53:03Z |
A 14-nm FinFET Logic CMOS Process Compatible RRAM Flash With Excellent Immunity to Sneak Path
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Hsieh, E. Ray; Kuo, Yen Chen; Cheng, Chih-Hung; Kuo, Jing Ling; Jiang, Meng-Ru; Lin, Jian-Li; Chen, Hung-Wen; Chung, Steve S.; Liu, Chuan-Hsi; Chen, Tse Pu; Huang, Shih An; Chen, Tai-Ju; Cheng, Osbert |
| 國立交通大學 |
2018-01-24T07:42:48Z |
新穎高性能鰭式電晶體結構 及其高頻特性分析
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林建里; 莊紹勳; Lin, Jian-Li; Chung, Steve-S. |
| 國立交通大學 |
2018-01-24T07:42:00Z |
14奈米鰭式電晶體自熱效應的新穎溫度量測方法 及其對傳輸機制之影響
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江孟儒; 莊紹勳; Jiang, Meng-Ru; Chung, Steve S. |
| 國立交通大學 |
2018-01-24T07:41:58Z |
一種新穎的鰭式電晶體可程式神經陣列 在人工神經網路的應用
|
陳泓文; 莊紹勳; Chen, Hung-Wen; Chung, Steve S. |
| 國立交通大學 |
2017-04-21T06:56:06Z |
A theoretical and experimental evaluation of surface roughness variation in trigate metal oxide semiconductor field effect transistors
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Hsieh, E. R.; Chung, Steve S. |
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