English  |  正體中文  |  简体中文  |  总笔数 :0  
造访人次 :  51411739    在线人数 :  898
教育部委托研究计画      计画执行:国立台湾大学图书馆
 
臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)
关于TAIR

浏览

消息

著作权

相关连结

"chung steve s"的相关文件

回到依作者浏览
依题名排序 依日期排序

显示项目 26-35 / 136 (共14页)
<< < 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 > >>
每页显示[10|25|50]项目

机构 日期 题名 作者
國立交通大學 2017-04-21T06:50:15Z Fully CMOS Compatible 3D Vertical RRAM with Self-aligned Self-selective Cell Enabling Sub-5nm Scaling Xu, Xiaoxin; Luo, Qing; Gong, Tiancheng; Lv, Hangbing; Long, Shibing; Liu, Qi; Chung, Steve S.; Li, Jing; Liu, Ming
國立交通大學 2017-04-21T06:50:15Z A Comprehensive Transport Model for High Performance HEMTs Considering the Parasitic Resistance and Capacitance Effects Hung, C. M.; Li, K. C.; Hsieh, E. R.; Wang, C. T.; Kou, C. I.; Chang, Edward Y.; Chung, Steve S.
國立交通大學 2017-04-21T06:50:15Z A New Variation Plot to Examine the Interfacial-dipole Induced Work-function Variation in Advanced High-k Metal-gate CMOS Devices Hsieh, E. R.; Wang, Y. D.; Chung, Steve S.; Ke, J. C.; Yang, C. W.; Hsu, S.
國立交通大學 2017-04-21T06:50:00Z The Experimental Demonstration of the BTI-Induced Breakdown Path in 28nm High-k Metal Gate Technology CMOS Devices Hsieh, E. R.; Lu, P. Y.; Chung, Steve S.; Chang, K. Y.; Liu, C. H.; Ke, J. C.; Yang, C. W.; Tsai, C. T.
國立交通大學 2017-04-21T06:50:00Z The Process and Stress-Induced Variability Issues of Trigate CMOS Devices Chung, Steve S.
國立交通大學 2017-04-21T06:49:47Z The RTN Measurement Technique on Leakage Path Finding in Advanced High-k Metal Gate CMOS Devices Hsieh, E. R.; Lu, P. Y.; Chung, Steve S.; Ke, J. C.; Yang, C. W.; Tsai, C. T.; Yew, T. R.
國立交通大學 2017-04-21T06:49:45Z 3D-TCAD Simulation Study of the Novel T-FinFET Structure for Sub-14nm Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor Chou, Chen-Han; Hsu, Chung-Chun; Chung, Steve S.; Chien, Chao-Hsin
國立交通大學 2017-04-21T06:49:45Z Design of Complementary Tilt-gate TFETs with SiGe/Si and III-V Integrations Feasible for Ultra-low-power Applications Hsieh, E. R.; Lin, Y. S.; Zhao, Y. B.; Liu, C. H.; Chien, C. H.; Chung, Steve S.
國立交通大學 2017-04-21T06:49:28Z The Impact of the Three-Dimensional Gate on the Trigate FinFETs Chung, Steve S.
國立交通大學 2017-04-21T06:49:14Z A Circuit Level Variability Prediction of Basic Logic Gates in Advanced Trigate CMOS Technology Hsieh, E. R.; Hung, C. M.; Wang, T. Y.; Chung, Steve S.; Huang, R. M.; Tsai, C. T.; Yew, T. R.

显示项目 26-35 / 136 (共14页)
<< < 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 > >>
每页显示[10|25|50]项目