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教育部委托研究计画 计画执行:国立台湾大学图书馆
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| 國立交通大學 |
2015-12-02T02:59:13Z |
Impact of the TiN barrier layer on the positive bias temperature instabilities of high-k/metal-gate field effect transistors
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Huang, Da-Cheng; Gong, Jeng; Huang, Chih-Fang; Chung, Steve S. |
| 國立交通大學 |
2015-11-26T01:07:58Z |
運用隨機電報訊號方法分析三閘極電晶體的多層級氧化層陷阱
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蔡侑璉; Tsai, You-Lian; 莊紹勳; Chung, Steve S. |
| 國立交通大學 |
2015-11-26T01:06:42Z |
二氧化鉿電阻式記憶體多位元操作之隨機電報雜訊分析
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黃英傑; Huang, Ying-Jie; 莊紹勳; Chung, Steve S. |
| 國立交通大學 |
2015-07-21T08:31:06Z |
Gate Current Variation: A New Theory and Practice on Investigating the Off-State Leakage of Trigate MOSFETs and the Power Dissipation of SRAM
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Hsieh, E. R.; Lin, S. T.; Chung, Steve S.; Huang, R. M.; Tsai, C. T.; Jung, L. T. |
| 國立交通大學 |
2014-12-16T06:15:13Z |
Structure and process of basic complementary logic gate made by junctionless transistors
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Chung Steve S.; Hsieh E. R. |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:51:52Z |
張力型矽鍺奈米CMOS元件通道工程及可靠性關鍵問題研究(III)
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莊紹勳; Chung Steve S |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:51:36Z |
高速操作及高資料保存特性SONOS型式快閃記憶體之研究
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莊紹勳; Chung Steve S |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:51:21Z |
混合基片奈米CMOS元件技術中各種應力效應對傳輸特性及可靠性影響的研究
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莊紹勳; Chung Steve S |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:49:40Z |
下一世代高性能及高可靠性的N通道MOS元件設計及量測技術探討
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莊紹勳; Chung Steve S |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:49:26Z |
利用氘化及氮化處理製備高可靠性薄閘氧化層深次微米NMOS元件
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莊紹勳; Chung Steve S |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:49:24Z |
用於快閃式記憶元件及電路性能與可靠性模擬的元件模式
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莊紹勳; Chung Steve S |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:48:12Z |
混合基片奈米CMOS元件技術中各種應力效應對傳輸特性及可靠性影響的研究
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莊紹勳; Chung Steve S |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:48:01Z |
高性能先進三維閘極CMOS應變元件設計-元件至電路的考量 (II)
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莊紹勳; Chung Steve S |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:46:04Z |
奈米CMOS元件不均勻、雜和氧化層缺陷導致臨限電壓變異之研究(I)
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莊紹勳; Chung Steve S |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:45:16Z |
下一世代高性能及高可靠性的N通道MOS元件設計及量測技術探討
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莊紹勳; Chung Steve S |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:43:18Z |
先進奈米應力結構CMOS元件性能與可靠性變異之研究
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莊紹勳; Chung Steve S |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:42:09Z |
下一世代高性能及高可靠性的N通道MOS元件設計及量測技術探討
|
莊紹勳; Chung Steve S |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:41:33Z |
先進奈米應力結構CMOS元件性能與可靠性變異之研究
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莊紹勳; Chung Steve S |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:40:23Z |
次微米MOS元件在非熱平衡下含氧化層傷害之熱電子閘極電流模式
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莊紹勳; Chung Steve S |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:39:39Z |
EPROM記憶元件中熱電子效應的可靠性研究
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莊紹勳; Chung Steve S |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:39:34Z |
先進低電壓低功率及高效能快閃式記憶體之研究(I)
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莊紹勳; Chung Steve S |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:39:32Z |
高介電閘氧化層深次微米MOS元件電漿製程傷害可靠性之研究
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莊紹勳; Chung Steve S |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:39:22Z |
次微米MOS元件中反向短通道效應特性分析與模式
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莊紹勳; Chung Steve S |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:39:09Z |
具有反向短通道效應N型MOS元件性能及可靠性的研究
|
莊紹勳; Chung Steve S |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:39:03Z |
快閃式記憶元件熱電子效應的可靠性分析
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莊紹勳; Chung Steve S |
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