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机构	日期	题名	作者
國立成功大學	2022-01-22	逆向精密量測與精密加工研發規劃結合	鍾佑鴻; Chung, Yu-Hung
元智大學	2004	應用一維傅立葉分析於TFT-LCD液晶顯示面板之瑕疵檢測	洪崇祐; Chung-Yu Hung

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