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"chung_len lee"

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國立交通大學 2014-12-12T02:13:50Z 使用軟體指令運算的障礙模擬器 周宗平; Tzung-Ping Chou; 李崇仁; Chung-Len Lee
國立交通大學 2014-12-12T02:13:50Z 奇偶排序網路的障礙診斷 胡志維; Chih-Wei Hu; 李崇仁; Chung-Len Lee
國立交通大學 2014-12-12T02:13:46Z NH3退火效應在複晶矽薄膜電晶體上之研究 顏文正; Wen-Cheng Yen; 李崇仁; Chung-Len Lee
國立交通大學 2014-12-12T02:13:38Z 通用測試集的產生及應用 陳碧茵; Beyin Chen; 李崇仁; Chung Len Lee
國立交通大學 2014-12-12T02:13:38Z 簡化序向電路測試之研究 許孟烈; Meng-Lieh Sheu; 李崇仁; Chung-Len Lee
國立交通大學 2014-12-12T02:13:38Z 多值邏輯電路的測試及多階級合成之研究 王慧民; Hui-Min Wang; 李崇仁; Chung-Len Lee
國立交通大學 2014-12-12T02:12:14Z 一應用於靜態供電電流之內建式電流感應器 鄭啟政; Chie-Cheng Cheng; 李崇仁; Chung-Len Lee
國立交通大學 2014-12-12T02:12:14Z 使用二元樹和多元樹來做自動測試圖樣產生器 陳淵傑; Yuan-Jie Chen; 李崇仁; Chung-Len Lee
國立交通大學 2014-12-12T02:12:12Z 一個測試圖樣平行障礙平行序向邏輯電路障礙模擬硬體加速器 謝宗宏; Tzong-Honge Shieh; 李崇仁; Chung-Len Lee
國立交通大學 2014-12-12T02:12:07Z 基於光罩式唯讀記憶體架構之省時結構化測試法 吳聰志; Tsung-Chin Wu; 李崇仁; Chung-Len Lee
國立交通大學 2014-12-12T02:12:04Z 分散式處理的序向電路測試圖樣產生器 王信華; Sin-Hwa Wang; 李崇仁; Chung-Len Lee
國立交通大學 2014-12-12T02:10:44Z 以內容地址記憶器架構且基於單ㄧ事件等效的序向障礙模擬 林仲晟; Chung-Cheng Lin; 李崇仁; Chung-Len Lee
國立交通大學 2014-12-12T02:10:44Z 基於測試圖樣產生之序向電路的部分掃描設計 王哲元; Che-Yuan Wang; 李崇仁; Chung-Len Lee
國立交通大學 2014-12-12T02:10:41Z 複晶矽薄膜電晶體通道摻雜與氫化效應之研究 曾皇文; Huang-Wen Tseng; 雷添福; 李崇仁; Tan-Fu Lei; Chung-Len Lee
國立交通大學 2014-12-12T02:10:41Z 由薄複晶矽經熱氧化或熱氮化所製備之穿隧氧化層 焦德民; Der-Min Chiao; 雷添福; 李崇仁; Tan-Fu Lei; Chung-Len Lee
國立交通大學 2014-12-12T02:10:39Z 複晶矽電阻係數之研究 吳怡璜; Yi-Huang Wu; 李崇仁; 雷添福; Chung-Len Lee; Tan-Fu Lei
國立交通大學 2014-12-12T02:10:37Z 可自我診斷的內建自我測試電路記憶體設計 牟慶聰; Chin-tsung Mo; 李崇仁; Chung-Len Lee
國立交通大學 2014-12-12T02:03:30Z 以振盪信號測試超大型積體電路之串音障礙 吳明學; Ming-Shae Wu; 李崇仁; Chung Len Lee
國立交通大學 2014-12-12T01:24:59Z 使用數位測試機台進行類比動態測試技術 章即時; Chi-Shih Chang; 李崇仁; 蘇朝琴; Chung-Len Lee; Chau-Chin Su
國立交通大學 2014-12-12T01:24:35Z 相容於IEEE Std. 1149.4 類比自我測試方法 涂德松; Te-Sung, Tu; 李崇仁; 蘇朝琴; Chung-Len, Lee; Chau-Chin, Su
國立交通大學 2014-12-12T01:24:29Z 可測試性設計與內建自我測試技術於有線等效保密智財之應用與研究 林隆裕; Lung-Yu Lin; 李崇仁; Chung-Len Lee
國立交通大學 2014-12-12T01:21:56Z 鎳矽化物應用在奈米金氧半導體元件技術之研究 李宗霖; Tsung-Lin Lee; 李崇仁; 雷添福; Chung-Len Lee; Tan-Fu Lei
中原大學 2000-09 Flip-Flop Selection for Mixed Scan and Reset Design Based on Test Generation and Structure of Sequential Circuits Hsing-Chung Liang;Chung Len Lee
中原大學 1997-09 Identifying Invalid States for Sequential Circuit Test Generation Hsing-Chung Liang;Chung Len Lee;Jwu E Chen
中原大學 1995-09 Identifying Untestable Faults in Sequential Circuits Hsing-Chung Liang;Chung Len Lee;Jwu E Chen
國立中山大學 1985-05 A Logic/Timing Simulator for Digital MOSIC Jyi-Tsong Lin;Chein-Wei Jen;Wen-Zen Shen;Chung-Len Lee

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