臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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机构	日期	题名	作者
國立交通大學	2014-12-12T02:12:04Z	分散式處理的序向電路測試圖樣產生器	王信華; Sin-Hwa Wang; 李崇仁; Chung-Len Lee
國立交通大學	2014-12-12T02:10:44Z	以內容地址記憶器架構且基於單ㄧ事件等效的序向障礙模擬	林仲晟; Chung-Cheng Lin; 李崇仁; Chung-Len Lee
國立交通大學	2014-12-12T02:10:44Z	基於測試圖樣產生之序向電路的部分掃描設計	王哲元; Che-Yuan Wang; 李崇仁; Chung-Len Lee
國立交通大學	2014-12-12T02:10:41Z	複晶矽薄膜電晶體通道摻雜與氫化效應之研究	曾皇文; Huang-Wen Tseng; 雷添福; 李崇仁; Tan-Fu Lei; Chung-Len Lee
國立交通大學	2014-12-12T02:10:41Z	由薄複晶矽經熱氧化或熱氮化所製備之穿隧氧化層	焦德民; Der-Min Chiao; 雷添福; 李崇仁; Tan-Fu Lei; Chung-Len Lee
國立交通大學	2014-12-12T02:10:39Z	複晶矽電阻係數之研究	吳怡璜; Yi-Huang Wu; 李崇仁; 雷添福; Chung-Len Lee; Tan-Fu Lei
國立交通大學	2014-12-12T02:10:37Z	可自我診斷的內建自我測試電路記憶體設計	牟慶聰; Chin-tsung Mo; 李崇仁; Chung-Len Lee
國立交通大學	2014-12-12T02:03:30Z	以振盪信號測試超大型積體電路之串音障礙	吳明學; Ming-Shae Wu; 李崇仁; Chung Len Lee
國立交通大學	2014-12-12T01:24:59Z	使用數位測試機台進行類比動態測試技術	章即時; Chi-Shih Chang; 李崇仁; 蘇朝琴; Chung-Len Lee; Chau-Chin Su
國立交通大學	2014-12-12T01:24:35Z	相容於IEEE Std. 1149.4 類比自我測試方法	涂德松; Te-Sung, Tu; 李崇仁; 蘇朝琴; Chung-Len, Lee; Chau-Chin, Su

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