臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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Institution	Date	Title	Author
國立交通大學	2014-12-12T02:12:04Z	分散式處理的序向電路測試圖樣產生器	王信華; Sin-Hwa Wang; 李崇仁; Chung-Len Lee
國立交通大學	2014-12-12T02:10:44Z	以內容地址記憶器架構且基於單ㄧ事件等效的序向障礙模擬	林仲晟; Chung-Cheng Lin; 李崇仁; Chung-Len Lee
國立交通大學	2014-12-12T02:10:44Z	基於測試圖樣產生之序向電路的部分掃描設計	王哲元; Che-Yuan Wang; 李崇仁; Chung-Len Lee
國立交通大學	2014-12-12T02:10:41Z	複晶矽薄膜電晶體通道摻雜與氫化效應之研究	曾皇文; Huang-Wen Tseng; 雷添福; 李崇仁; Tan-Fu Lei; Chung-Len Lee
國立交通大學	2014-12-12T02:10:41Z	由薄複晶矽經熱氧化或熱氮化所製備之穿隧氧化層	焦德民; Der-Min Chiao; 雷添福; 李崇仁; Tan-Fu Lei; Chung-Len Lee
國立交通大學	2014-12-12T02:10:39Z	複晶矽電阻係數之研究	吳怡璜; Yi-Huang Wu; 李崇仁; 雷添福; Chung-Len Lee; Tan-Fu Lei
國立交通大學	2014-12-12T02:10:37Z	可自我診斷的內建自我測試電路記憶體設計	牟慶聰; Chin-tsung Mo; 李崇仁; Chung-Len Lee
國立交通大學	2014-12-12T02:03:30Z	以振盪信號測試超大型積體電路之串音障礙	吳明學; Ming-Shae Wu; 李崇仁; Chung Len Lee
國立交通大學	2014-12-12T01:24:59Z	使用數位測試機台進行類比動態測試技術	章即時; Chi-Shih Chang; 李崇仁; 蘇朝琴; Chung-Len Lee; Chau-Chin Su
國立交通大學	2014-12-12T01:24:35Z	相容於IEEE Std. 1149.4 類比自我測試方法	涂德松; Te-Sung, Tu; 李崇仁; 蘇朝琴; Chung-Len, Lee; Chau-Chin, Su
國立交通大學	2014-12-12T01:24:29Z	可測試性設計與內建自我測試技術於有線等效保密智財之應用與研究	林隆裕; Lung-Yu Lin; 李崇仁; Chung-Len Lee
國立交通大學	2014-12-12T01:21:56Z	鎳矽化物應用在奈米金氧半導體元件技術之研究	李宗霖; Tsung-Lin Lee; 李崇仁; 雷添福; Chung-Len Lee; Tan-Fu Lei
中原大學	2000-09	Flip-Flop Selection for Mixed Scan and Reset Design Based on Test Generation and Structure of Sequential Circuits	Hsing-Chung Liang;Chung Len Lee
中原大學	1997-09	Identifying Invalid States for Sequential Circuit Test Generation	Hsing-Chung Liang;Chung Len Lee;Jwu E Chen
中原大學	1995-09	Identifying Untestable Faults in Sequential Circuits	Hsing-Chung Liang;Chung Len Lee;Jwu E Chen
國立中山大學	1985-05	A Logic/Timing Simulator for Digital MOSIC	Jyi-Tsong Lin;Chein-Wei Jen;Wen-Zen Shen;Chung-Len Lee

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