English  |  正體中文  |  简体中文  |  2818629  
???header.visitor??? :  28124074    ???header.onlineuser??? :  761
???header.sponsordeclaration???
 
臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)
???ui.leftmenu.abouttair???

???ui.leftmenu.bartitle???

???index.news???

???ui.leftmenu.copyrighttitle???

???ui.leftmenu.link???

"fox h"???jsp.browse.items-by-author.description???

???jsp.browse.items-by-author.back???
???jsp.browse.items-by-author.order1??? ???jsp.browse.items-by-author.order2???

Showing items 1-13 of 13  (1 Page(s) Totally)
1 
View [10|25|50] records per page

Institution Date Title Author
國立成功大學 2022 ATHENA detector proposal - a totally hermetic electron nucleus apparatus proposed for IP6 at the Electron-Ion Collider Adam, J.;Adamczyk, L.;Agrawal, N.;Aidala, C.;Akers, W.;Alekseev, M.;Allen, M.M.;Ameli, F.;Angerami, Angerami A.;Antonioli, P.;Apadula, N.J.;Aprahamian, Aprahamian A.;Armstrong, W.;Arratia, M.;Arrington, J.R.;Asaturyan, Asaturyan A.;Aschenauer, E.C.;Augsten, K.;Aune, S.;Bailey, K.;Baldanza, C.;Bansal, M.;Barbosa, F.;Barion, L.;Barish, K.;Battaglieri, M.;Bazilevsky, A.;Behera, N.K.;Berdnikov, V.;Bernauer, J.;Berriaud, C.;Bhasin, A.;Bhattacharya, D.S.;Bielcik, J.;Bielcikova, J.;Bissolotti, C.;Boeglin, W.;Bondì, M.;Borri, M.;Bossù, F.;Bouyjou, F.;Brandenburg, J.D.;Bressan, A.;Brooks, M.;Bültmann, S.L.;Byer, D.;Caines, H.;Calderon, De La Barca Sanchez M.;Calvelli, V.;Camsonne, A.;Cappelli, L.;Capua, M.;Castro, M.;Cavazza, D.;Cebra, D.;Celentano, A.;Chakaberia, I.;Chan, B.;Chang, W.;Chartier, M.;Chatterjee, Chatterjee C.;Chen, D.;Chen, J.;Chen, K.;Chen, Z.;Chetri, H.;Chiarusi, T.;Chiosso, M.;Chu, X.;Chwastowski, J.J.;Cicala, G.;Cisbani, E.;Cline, E.;Cloët, I.;Colella, D.;Contalbrigo, M.;Contin, G.;Corliss, R.;Corrales-Morales, Y.;Crafts, J.;Crawford, Crawford C.;Cruz-Torres, R.;D'Ago, D.;D'Angelo, Angelo A.;D'Hose, N.;Dainton, J.;Dalla, Torre S.;Dasgupta, S.S.;Dash, S.;Dashyan, N.;Datta, J.;Daugherity, M.;De, Vita R.;Deconinck, W.;Defurne, M.;Dehmelt, K.;Del, Dotto A.;Delcarro, F.;Dellacasa, G.;Demiroglu, Z.S.;Deptuch, G.W.;Desai, V.;Deshpande, A.;Devereaux, K.;Dhillon, R.;Di, Salvo R.;Dilks, C.;Dixit, Dixit D.;Dobbs, S.;Dong, X.;Drachenberg, J.;Drees, A.;Dupré, R.;Durham, M.;Dzhygadlo, R.;El, Fassi L.;Elia, D.;Epple, Epple E.;Esha, R.;Evdokimov, O.;Eyser, O.;Falchieri, D.;Fan, W.;Fantini, A.;Fatemi, R.;Fazio, S.;Fegan, S.;Filippi, A.;Fox, H.;Francisco, A.;Freeze, A.;Furletov, S.;Furletova, Y.;Gal, C.;Gardner, S.;Garg, P.;Gaskell, D.;Gates, K.;Gericke, M.T.W.;Geurts, F.;Ghosh, C.;Giacalone, M.;Giacomini, F.;Gilchrist, S.;Glazier, D.;Gnanvo, K.;Gonella, L.;Greiner, L.C.;Guerrini, N.;Guo, L.;Gupta, A.;Gupta, R.;Guryn, W.;He, X.;Hemmick, T.;Heppelmann, S.;Higinbotham, D.;Hoballah, M.;Hoghmrtsyan, A.;Hohlmann, M.;Horn, T.;Hornidge, D.;Huang, Huang H.Z.;Hyde, C.E.;Iapozzuto, P.;Idzik, M.;Jacak, B.V.;Jadhav, M.;Jain, S.;Jena, C.;Jentsch, A.;Ji, Y.;Ji, Z.;Jia, Jia J.;Jones, P.G.;Jones, R.W.I.;Joosten, S.;Joshi, S.;Kabir, L.;Kalicy, G.;Karyan, G.;Kashyap, V.K.S.;Kawall, D.;Ke, H.;Kelsey, M.;Kim, J.;Kiryluk, J.;Kiselev, A.;Klein, S.R.;Klest, H.;Kochar, V.;Korsch, W.;Kosarzewski, L.;Kotzinian, A.;Krizek, F.;Kumar, A.;Kumar, Kumar K.S.;Kumar, L.;Kumar, R.;Kumar, S.;Kunnath, A.;Kushawaha, N.;Lacey, R.;Lai, Y.S.;Lalwani, K.;Landgraf, J.;Lanza, Lanza L.;Lattuada, D.;Lavinsky, M.;Lee, J.H.;Lee, S.H.;Lemmon, R.;Lestone, A.;Lewis, N.;Li, H.;Li, S.;Li, W.;Li, W.;Li, X.;Li, X.;Liang, X.;Ligonzo, T.;Lin, T.;Liu, J.;Liu, K.;Liu, M.;Livingston, K.;Liyanage, N.;Ljubicic, T.;Long, O.;Lukow, N.;Ma, Y.;Mammei, J.;Mammoliti, F.;Mamo, K.;Mandjavidze, I.;Maple, S.;Marchand, D.;Margotti, A.;Markert, C.;Markowitz, P.;Marshall, T.;Martin, A.;Marukyan, H.;Mastroserio, A.;Mathew, S.;Mayilyan, S.;Mayri, C.;McEneaney, McEneaney M.;Mei, Y.;Meng, L.;Méot, F.;Metcalfe, J.;Meziani, Z.-E.;Mihir, P.;Milton, R.;Mirabella, A.;Mirazita, Mirazita M.;Mkrtchyan, A.;Mkrtchyan, H.;Mohanty, B.;Mondal, Mondal M.;Morreale, A.;Movsisyan, A.;Muenstermann, D.;Mukherjee, A.;Munoz, Camacho C.;Murray, Murray M.J.;Mustafa, H.;Myška, Myška M.;Nachman, B.P.;Nagai, K.;Naik, R.;Naim, J.P.;Nam, J.;Nandi, B.;Nappi, E.;Nasim, M.;Neff, D.;Neiret, D.;Newman, P.R.;Nguyen, M.;Niccolai, S.;Nie, M.;Noferini, F.;Norman, J.;Noto, F.;Nunes, A.S.;O'Connor, T.;Odyniec, G.;Okorokov, V.A.;Osipenko, M.;Page, B.;Palatchi, C.;Palmer, D.;Palni, Palni P.;Pandey, S.;Panzieri, D.;Park, S.;Paschke, K.;Pastore, C.;Patra, R.N.;Paul, A.;Paul, S.;Pecar, C.;Peck, A.;Pegg, I.;Pellegrino, C.;Peng, C.;Pentchev, L.;Perrino, R.;Piotrzkowski, K.;Polakovic, T.;Płoskoń, M.;Posik, M.;Prasad, S.;Preghenella, R.;Priens, S.;Prifti, E.;Przybycien, M.;Pujahari, Pujahari P.;Quintero, A.;Radici, M.;Radhakrishnan, S.K.;Rahman, S.;Rathi, S.;Raue, B.;Reed, Reed R.;Reimer, P.;Reinhold, J.;Renner, E.;Rignanese, L.;Ripani, M.;Rizzo, A.;Romanov, D.;Roy, A.;Rubini, N.;Ruspa, M.;Ruan, L.;Sabatié, F.;Sadhukhan, Sadhukhan S.;Sahoo, N.;Sahu, P.;Samuel, D.;Sarkar, A.;Sarsour, M.;Schmidke, W.;Schmookler, B.;Schwarz, C.;Schwiening, J.;Scott, M.;Sedgwick, I.;Segreti, M.;Sekula, Sekula S.;Seto, R.;Shah, N.;Shahinyan, A.;Sharma, D.;Sharma, N.;Sichtermann, E.P.;Signori, A.;Singh, A.;Singh, B.K.;Singh, Singh S.N.;Smirnov, N.;Sokhan, D.;Soltz, R.;Sondheim, W.;Spinali, Spinali S.;Stacchi, F.;Staszewski, R.;Stepanov, P.;Strazzi, Strazzi S.;Stroe, I.R.;Sun, X.;Surrow, B.;Sweger, Z.;Symons, T.J.;Tadevosyan, V.;Tang, A.;Tassi, E.;Teodorescu, L.;Tessarotto, F.;Thomas, D.;Thomas, J.H.;Toll, Toll T.;Tomášek, L.;Torales-Acosta, F.;Tribedy, P.;Triloki;Tripathi, V.;Trotta, R.;Trzebiński, M.;Trzeciak, B.A.;Tsai, O.;Tu, Z.;Turrisi, R.;Tuvè, C.;Ullrich, T.;Urciuoli, G.M.;Valentini, A.;Vallarino, S.;Vandenbroucke, M.;Vanek, J.;Vino, G.;Volpe, G.;Voskanyan, H.;Vossen, A.;Voutier, E.;Wang, G.;Wang, Y.;Watts, D.;Wickramaarachchi, N.;Wilson, F.;Wong, C.-P.;Wu, X.;Wu, Y.;Xie, J.;Xu, Q.-H.;Xu, Z.;Xu, Z.W.;Yang, C.;Yang, Q.;Yang, Yang Y.;Ye, Z.;Ye, Z.;Yi, L.;Yin, Z.;Yurov, M.;Zachariou, N.;Zhang, J.;Zhang, Y.;Zhang, Zhang Z.;Zhang, Zhang Z.;Zhao, Y.;Zhao, Y.X.;Zhao, Zhao Z.;Zheng, L.;Żurek, M.
臺大學術典藏 2021-01-27T06:53:28Z Social–environmental drivers inform strategic management of coral reefs in the Anthropocene Darling, E.S.;McClanahan, T.R.;Maina, J.;Gurney, G.G.;Graham, N.A.J.;Januchowski-Hartley, F.;Cinner, J.E.;Mora, C.;Hicks, C.C.;Maire, E.;Puotinen, M.;Skirving, W.J.;Adjeroud, M.;Ahmadia, G.;Arthur, R.;Bauman, A.G.;Beger, M.;Berumen, M.L.;Bigot, L.;Bouwmeester, J.;Brenier, A.;Bridge, T.C.L.;Brown, E.;Campbell, S.J.;Cannon, S.;Cauvin, B.;Chen, C.A.;Claudet, J.;Denis, V.;Donner, S.;Estradivari, Fadli, N.;Feary, D.A.;Fenner, D.;Fox, H.;Franklin, E.C.;Friedlander, A.;Gilmour, J.;Goiran, C.;Guest, J.;Hobbs, J.-P.A.;Hoey, A.S.;Houk, P.;Johnson, S.;Jupiter, S.D.;Kayal, M.;Kuo, C.-Y.;Lamb, J.;Lee, M.A.C.;Low, J.;Muthiga, N.;Muttaqin, E.;Nand, Y.;Nash, K.L.;Nedlic, O.;Pandolfi, J.M.;Pardede, S.;Patankar, V.;Penin, L.;Ribas-Deulofeu, L.;Richards, Z.;Roberts, T.E.;Rodgers, K.S.;Safuan, C.D.M.;Sala, E.;Shedrawi, G.;Sin, T.M.;Smallhorn-West, P.;Smith, J.E.;Sommer, B.;Steinberg, P.D.;Sutthacheep, M.;Tan, C.H.J.;Williams, G.J.;Wilson, S.;Yeemin, T.;Bruno, J.F.;Fortin, M.-J.;Krkosek, M.;Mouillot, D.; Darling, E.S.; McClanahan, T.R.; Maina, J.; Gurney, G.G.; Graham, N.A.J.; Januchowski-Hartley, F.; Cinner, J.E.; Mora, C.; Hicks, C.C.; Maire, E.; Puotinen, M.; Skirving, W.J.; Adjeroud, M.; Ahmadia, G.; Arthur, R.; Bauman, A.G.; Beger, M.; Berumen, M.L.; Bigot, L.; Bouwmeester, J.; Brenier, A.; Bridge, T.C.L.; Brown, E.; Campbell, S.J.; Cannon, S.; Cauvin, B.; Chen, C.A.; Claudet, J.; Denis, V.; Donner, S.; Estradivari, Fadli, N.; Feary, D.A.; Fenner, D.; Fox, H.; Franklin, E.C.; Friedlander, A.; Gilmour, J.; Goiran, C.; Guest, J.; Hobbs, J.-P.A.; Hoey, A.S.; Houk, P.; Johnson, S.; Jupiter, S.D.; Kayal, M.; Kuo, C.-Y.; Lamb, J.; Lee, M.A.C.; Low, J.; Muthiga, N.; Muttaqin, E.; Nand, Y.; Nash, K.L.; Nedlic, O.; Pandolfi, J.M.; Pardede, S.; Patankar, V.; Penin, L.; Ribas-Deulofeu, L.; Richards, Z.; Roberts, T.E.; Rodgers, K.S.; Safuan, C.D.M.; Sala, E.; Shedrawi, G.; Sin, T.M.; Smallhorn-West, P.; Smith, J.E.; Sommer, B.; Steinberg, P.D.; Sutthacheep, M.; Tan, C.H.J.; Williams, G.J.; Wilson, S.; Yeemin, T.; Bruno, J.F.; Fortin, M.-J.; Krkosek, M.; Mouillot, D.; VIANNEY DENIS
臺大學術典藏 2021-01-27T03:23:28Z Social–environmental drivers inform strategic management of coral reefs in the Anthropocene Darling, E.S.;McClanahan, T.R.;Maina, J.;Gurney, G.G.;Graham, N.A.J.;Januchowski-Hartley, F.;Cinner, J.E.;Mora, C.;Hicks, C.C.;Maire, E.;Puotinen, M.;Skirving, W.J.;Adjeroud, M.;Ahmadia, G.;Arthur, R.;Bauman, A.G.;Beger, M.;Berumen, M.L.;Bigot, L.;Bouwmeester, J.;Brenier, A.;Bridge, T.C.L.;Brown, E.;Campbell, S.J.;Cannon, S.;Cauvin, B.;Chen, C.A.;Claudet, J.;Denis, V.;Donner, S.;Estradivari, Fadli, N.;Feary, D.A.;Fenner, D.;Fox, H.;Franklin, E.C.;Friedlander, A.;Gilmour, J.;Goiran, C.;Guest, J.;Hobbs, J.-P.A.;Hoey, A.S.;Houk, P.;Johnson, S.;Jupiter, S.D.;Kayal, M.;Kuo, C.-Y.;Lamb, J.;Lee, M.A.C.;Low, J.;Muthiga, N.;Muttaqin, E.;Nand, Y.;Nash, K.L.;Nedlic, O.;Pandolfi, J.M.;Pardede, S.;Patankar, V.;Penin, L.;Ribas-Deulofeu, L.;Richards, Z.;Roberts, T.E.;Rodgers, K.S.;Safuan, C.D.M.;Sala, E.;Shedrawi, G.;Sin, T.M.;Smallhorn-West, P.;Smith, J.E.;Sommer, B.;Steinberg, P.D.;Sutthacheep, M.;Tan, C.H.J.;Williams, G.J.;Wilson, S.;Yeemin, T.;Bruno, J.F.;Fortin, M.-J.;Krkosek, M.;Mouillot, D.; Darling, E.S.; McClanahan, T.R.; Maina, J.; Gurney, G.G.; Graham, N.A.J.; Januchowski-Hartley, F.; Cinner, J.E.; Mora, C.; Hicks, C.C.; Maire, E.; Puotinen, M.; Skirving, W.J.; Adjeroud, M.; Ahmadia, G.; Arthur, R.; Bauman, A.G.; Beger, M.; Berumen, M.L.; Bigot, L.; Bouwmeester, J.; Brenier, A.; Bridge, T.C.L.; Brown, E.; Campbell, S.J.; Cannon, S.; Cauvin, B.; Chen, C.A.; Claudet, J.; Denis, V.; Donner, S.; Estradivari, Fadli, N.; Feary, D.A.; Fenner, D.; Fox, H.; Franklin, E.C.; Friedlander, A.; Gilmour, J.; Goiran, C.; Guest, J.; Hobbs, J.-P.A.; Hoey, A.S.; Houk, P.; Johnson, S.; Jupiter, S.D.; Kayal, M.; Kuo, C.-Y.; Lamb, J.; Lee, M.A.C.; Low, J.; Muthiga, N.; Muttaqin, E.; Nand, Y.; Nash, K.L.; Nedlic, O.; Pandolfi, J.M.; Pardede, S.; Patankar, V.; Penin, L.; Ribas-Deulofeu, L.; Richards, Z.; Roberts, T.E.; Rodgers, K.S.; Safuan, C.D.M.; Sala, E.; Shedrawi, G.; Sin, T.M.; Smallhorn-West, P.; Smith, J.E.; Sommer, B.; Steinberg, P.D.; Sutthacheep, M.; Tan, C.H.J.; Williams, G.J.; Wilson, S.; Yeemin, T.; Bruno, J.F.; Fortin, M.-J.; Krkosek, M.; Mouillot, D.; VIANNEY DENIS
臺大學術典藏 2019-12-27T01:16:39Z Progress with the single-sided module prototypes for the ATLAS tracker upgrade stave Parzefall, U.; Pernecker, S.; Phillips, P.; Poltorak, K.; Puldon, D.; Robinson, D.; Sadrozinski, H.F.-W.; Santoyo, D.; Sattari, S.; Schamberger, D.; Seiden, A.; Sutcliffe, P.; Swientek, K.; Tsionou, D.; Tyndel, M.; Unno, Y.; Viehhauser, G.; Villani, E.G.; Von Wilpert, J.; Wastie, R.; Weber, M.; Weidberg, A.; Wiik, L.; Wilmut, I.; Wormald, M.; Wright, J.; Xu, D.; Stathes Paganis; Fox, H.; French, R.; Gallop, B.; Garc?a, C.; Gerling, M.; Gibson, M.; Gilchriese, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Goodrick, M.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Haber, C.H.; Hessey, N.P.; Holt, R.; Hommels, L.B.A.; Jakobs, K.; Jones, T.J.; Kaplon, J.; Kierstead, J.; Koffeman, E.; K?hler, M.; Lacasta, C.; La Marra, D.; Li, Z.; Lindgren, S.; Lynn, D.; Maddock, P.; Mahboubi, K.; Martinez-Mckinney, F.; Matheson, J.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Newcomer, M.; Nickerson, R.; O'Shea, V.; Paganis, S.; Allport, P.P.; Affolder, A.A.; Anghinolfi, F.; Bates, R.; Betancourt, C.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Civera, J.V.; Clark, A.; Colijn, A.P.; Dabrowski, W.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Dhawan, S.; Dressnandt, N.; Dwu?nik, M.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Farthouat, P.; Ferr?re, D.
臺大學術典藏 2019-12-27T01:16:38Z Development of n-on-p silicon sensors for very high radiation environments Jakobs, K.; Kamada, S.; Kierstead, J.; Kodys, P.; Kohler, M.; Kohriki, T.; Kramberger, G.; Lacasta, C.; Li, Z.; Lindgren, S.; Lynn, D.; Mikestikova, M.; Maddock, P.; Mandic, I.; Marti I Garcia, S.; Martinez-Mckinney, F.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikuz, M.; Minano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Paganis, S.; Parzefall, U.; Puldon, D.; Robinson, D.; Sadrozinski, H.F.-W.; Sattari, S.; Schamberger, D.; Seidel, S.; Seiden, A.; Terada, S.; Toms, K.; Tsionou, D.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Yamamura, K.; Stathes Paganis; Unno, Y.; Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.; Betancourt, C.; Bohm, J.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferrere, D.; Fox, H.; French, R.; Garcia, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hamasaki, N.; Hara, K.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.
臺大學術典藏 2019-12-27T01:16:38Z Testing of surface properties pre-rad and post-rad of n-in-p silicon sensors for very high radiation environment Seidel, S.; Toms, K.; Tsionou, D.; Unno, Y.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Stathes Paganis; Bohm, J.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Doherty, F.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferr?rre, D.; Fox, H.; French, R.; Garc?a, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hamasaki, N.; Hara, K.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.; Jakobs, K.; Kierstead, J.; Kodys, P.; K?hler, M.; Kohriki, T.; Kramberger, G.; Lacasta, C.; Li, Z.; Lynn, D.; Maddock, P.; Mandi?, I.; Martinez-Mckinney, F.; Garcia, S.M.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikestikova, M.; Miku?, M.; Mi?ano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Parzefall, U.; Sadrozinski, H.F.-W.; Schamberger, D.; Seiden, A.; Terada, S.; Paganis, S.; Robinson, D.; Puldon, D.; Sattari, S.; Betancourt, C.; Lindgren, S.; Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.
臺大學術典藏 2019-12-27T01:16:37Z Testing of bulk radiation damage of n-in-p silicon sensors for very high radiation environments Hara, K.;Affolder, A.A.;Allport, P.P.;Bates, R.;Betancourt, C.;Bohm, J.;Brown, H.;Buttar, C.;Carter, J.R.;Casse, G.;Chen, H.;Chilingarov, A.;Cindro, V.;Clark, A.;Dawson, N.;Dewilde, B.;Doherty, F.;Dolezal, Z.;Eklund, L.;Fadeyev, V.;Ferrere, D.;Fox, H.;French, R.;Garc?a, C.;Gerling, M.;Gonzalez Sevilla, S.;Gorelov, I.;Greenall, A.;Grillo, A.A.;Hamasaki, N.;Hatano, H.;Hoeferkamp, M.;Hommels, L.B.A.;Ikegami, Y.;Jakobs, K.;Kierstead, J.;Kodys, P.;K?hler, M.;Kohriki, T.;Kramberger, G.;Lacasta, C.;Li, Z.;Lindgren, S.;Lynn, D.;Maddock, P.;Mandi?, I.;Martinez-Mckinney, F.;Mart? I Garcia, S.;Maunu, R.;McCarthy, R.;Metcalfe, J.;Mikestikova, M.;Miku?, M.;Mi?ano, M.;Mitsui, S.;O'Shea, V.;Parzefall, U.;Sadrozinski, H.F.-W.;Schamberger, D.;Seiden, A.;Terada, S.;Paganis, S.;Robinson, D.;Puldon, D.;Sattari, S.;Seidel, S.;Takahashi, Y.;Toms, K.;Tsionou, D.;Unno, Y.;Von Wilpert, J.;Wormald, M.;Wright, J.;Yamada, M.; Hara, K.; Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.; Betancourt, C.; Bohm, J.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Doherty, F.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferrere, D.; Fox, H.; French, R.; Garc?a, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hamasaki, N.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.; Jakobs, K.; Kierstead, J.; Kodys, P.; K?hler, M.; Kohriki, T.; Kramberger, G.; Lacasta, C.; Li, Z.; Lindgren, S.; Lynn, D.; Maddock, P.; Mandi?, I.; Martinez-Mckinney, F.; Mart? I Garcia, S.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikestikova, M.; Miku?, M.; Mi?ano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Parzefall, U.; Sadrozinski, H.F.-W.; Schamberger, D.; Seiden, A.; Terada, S.; Paganis, S.; Robinson, D.; Puldon, D.; Sattari, S.; Seidel, S.; Takahashi, Y.; Toms, K.; Tsionou, D.; Unno, Y.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Stathes Paganis
臺大學術典藏 2019-12-27T01:16:37Z Testing of bulk radiation damage of n-in-p silicon sensors for very high radiation environments Hara, K.;Affolder, A.A.;Allport, P.P.;Bates, R.;Betancourt, C.;Bohm, J.;Brown, H.;Buttar, C.;Carter, J.R.;Casse, G.;Chen, H.;Chilingarov, A.;Cindro, V.;Clark, A.;Dawson, N.;Dewilde, B.;Doherty, F.;Dolezal, Z.;Eklund, L.;Fadeyev, V.;Ferrere, D.;Fox, H.;French, R.;Garc?a, C.;Gerling, M.;Gonzalez Sevilla, S.;Gorelov, I.;Greenall, A.;Grillo, A.A.;Hamasaki, N.;Hatano, H.;Hoeferkamp, M.;Hommels, L.B.A.;Ikegami, Y.;Jakobs, K.;Kierstead, J.;Kodys, P.;K?hler, M.;Kohriki, T.;Kramberger, G.;Lacasta, C.;Li, Z.;Lindgren, S.;Lynn, D.;Maddock, P.;Mandi?, I.;Martinez-Mckinney, F.;Mart? I Garcia, S.;Maunu, R.;McCarthy, R.;Metcalfe, J.;Mikestikova, M.;Miku?, M.;Mi?ano, M.;Mitsui, S.;O'Shea, V.;Parzefall, U.;Sadrozinski, H.F.-W.;Schamberger, D.;Seiden, A.;Terada, S.;Paganis, S.;Robinson, D.;Puldon, D.;Sattari, S.;Seidel, S.;Takahashi, Y.;Toms, K.;Tsionou, D.;Unno, Y.;Von Wilpert, J.;Wormald, M.;Wright, J.;Yamada, M.; Hara, K.; Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.; Betancourt, C.; Bohm, J.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Doherty, F.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferrere, D.; Fox, H.; French, R.; Garc?a, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hamasaki, N.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.; Jakobs, K.; Kierstead, J.; Kodys, P.; K?hler, M.; Kohriki, T.; Kramberger, G.; Lacasta, C.; Li, Z.; Lindgren, S.; Lynn, D.; Maddock, P.; Mandi?, I.; Martinez-Mckinney, F.; Mart? I Garcia, S.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikestikova, M.; Miku?, M.; Mi?ano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Parzefall, U.; Sadrozinski, H.F.-W.; Schamberger, D.; Seiden, A.; Terada, S.; Paganis, S.; Robinson, D.; Puldon, D.; Sattari, S.; Seidel, S.; Takahashi, Y.; Toms, K.; Tsionou, D.; Unno, Y.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Stathes Paganis
臺大學術典藏 2019-12-27T01:16:37Z Evaluation of the bulk and strip characteristics of large area n-in-p silicon sensors intended for a very high radiation environment Lacasta, C.; Li, Z.; Lindgren, S.; Lynn, D.; Maddock, P.; Mandic, I.; Marti I Garcia, S.; Martinez-Mckinney, F.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikuz, M.; Minano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Paganis, S.; Parzefall, U.; Puldon, D.; Robinson, D.; Sadrozinski, H.F.-W.; Sattari, S.; Schamberger, D.; Seidel, S.; Seiden, A.; Soldevila, U.; Terada, S.; Toms, K.; Tsionou, D.; Unno, Y.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Stathes Paganis; Bohm, J.; Mikestikova, M.; Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.; Betancourt, C.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Doherty, F.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferrere, D.; Fox, H.; French, R.; Garcia, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hara, K.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.; Jakobs, K.; Kierstead, J.; Kodys, P.; K?hler, M.; Kohriki, T.; Krambergen, G.
臺大學術典藏 2018-09-10T08:45:42Z Testing of bulk radiation damage of n-in-p silicon sensors for very high radiation environments Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.; Betancourt, C.; Bohm, J.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Doherty, F.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferrere, D.; Fox, H.; French, R.; Garc\\'ia, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hamasaki, N.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.; Jakobs, K.; Kierstead, J.; Kodys, P.; K\\ohler, M.; Kohriki, T.; Kramberger, G.; Lacasta, C.; Li, Z.; Lindgren, S.; Lynn, D.; Maddock, P.; M; i?, I.; Martinez-Mckinney, F.; Mart\\'i I Garcia, S.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikestikova, M.; Miku?, M.; Mi\\~nano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Parzefall, U.; Sadrozinski, H.F.-W.; Schamberger, D.; Seiden, A.; Terada, S.; Paganis, S.; Robinson, D.; Puldon, D.; Sattari, S.; Seidel, S.; Takahashi, Y.; Toms, K.; Tsionou, D.; Unno, Y.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Hara, K.; Stathes Paganis et al.
臺大學術典藏 2018-09-10T08:45:42Z Testing of surface properties pre-rad and post-rad of n-in-p silicon sensors for very high radiation environment Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.; Betancourt, C.; Bohm, J.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Doherty, F.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferr\\`erre, D.; Fox, H.; French, R.; Garc\\'ia, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hamasaki, N.; Hara, K.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.; Jakobs, K.; Kierstead, J.; Kodys, P.; K\\ohler, M.; Kohriki, T.; Kramberger, G.; Lacasta, C.; Li, Z.; Lynn, D.; Maddock, P.; M; i?, I.; Martinez-Mckinney, F.; Garcia, S.M.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikestikova, M.; Miku?, M.; Mi\\~nano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Parzefall, U.; Sadrozinski, H.F.-W.; Schamberger, D.; Seiden, A.; Terada, S.; Paganis, S.; Robinson, D.; Puldon, D.; Sattari, S.; Seidel, S.; Toms, K.; Tsionou, D.; Unno, Y.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Lindgren, S.; Stathes Paganis et al.
臺大學術典藏 2018-09-10T08:45:41Z Evaluation of the bulk and strip characteristics of large area n-in-p silicon sensors intended for a very high radiation environment Stathes Paganis; Mikestikova, M.; Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.; Betancourt, C.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Doherty, F.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferrere, D.; Fox, H.; French, R.; Garcia, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hara, K.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.; Jakobs, K.; Kierstead, J.; Kodys, P.; K\\ohler, M.; Kohriki, T.; Krambergen, G.; Lacasta, C.; Li, Z.; Lindgren, S.; Lynn, D.; Maddock, P.; M; ic, I.; Marti I Garcia, S.; Martinez-Mckinney, F.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikuz, M.; Minano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Paganis, S.; Parzefall, U.; Puldon, D.; Robinson, D.; Sadrozinski, H.F.-W.; Sattari, S.; Schamberger, D.; Seidel, S.; Seiden, A.; Soldevila, U.; Terada, S.; Toms, K.; Tsionou, D.; Unno, Y.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.
臺大學術典藏 2018-09-10T07:07:36Z Engineering for the ATLAS SemiConductor Tracker (SCT) End-cap Stathes Paganis; Allport, P.P.; ; erson, B.; ; ricek, L.; Anghinolfi, F.; Apsimon, R.J.; Atkinson, T.; Austin, A.; B; , H.; Barclay, P.; Barr, A.; Batchelor, L.E.; Bates, R.L.; Batley, J.R.; Beck, G.; Becker, H.; Bell, P.; Bell, W.H.; Belymam, A.; Bene?, J.; Bene?, P.; Berbee, E.; Bernabeu, J.; Bethke, S.; Bingefors, N.; Bizzell, J.P.; Blaszczak, Z.J.; Blocki, J.; Bro?, J.; Bohm, J.; Brenner, R.; Brodbeck, T.J.; De Renstrom, P.B.; Buis, R.; Burton, G.; Buskop, J.; Buttar, C.M.; Butterworth, J.M.; Butterworth, S.; Capocci, E.; Carpentieri, C.; Carter, A.A.; Carter, J.R.; Chamizo, M.; Charlton, D.G.; Cheplakov, A.; Chilingarov, A.; Chouridou, S.; Chren, D.; Chu, M.L.; Cindro, V.; Ciocio, A.; Civera, J.V.; Clark, A.; Coe, P.; Colijn, A.P.; Cooke, P.A.; Costa, M.J.; Costanzo, D.; Curtis-Rous, M.; Dabinett, C.; Dabrowski, W.; Dalmau, J.; Danielsen, K.M.; D'Auria, S.; Dawson, I.; De Jong, P.; Dervan, P.; Dobson, E.; Doherty, F.; Dole?al, Z.; Donega, M.; D'Onofrio, M.; Dorholt, O.; Doubrava, M.; Duerdoth, I.P.; Duisters, C.; Duxfield, R.; Dwuznik, M.; Eckert, S.; Eklund, L.; Escobar, C.; Evans, D.L.; Fadeyev, V.; Fasching, D.; Feld, L.; Ferguson, D.P.S.; Ferrari, P.; Ferrere, D.; Fopma, J.; Ford, P.; Fortin, R.; Foster, J.M.; Fox, H.; Fraser, T.J.; Freestone, J.; French, R.S.; Fuster, J.; Gallop, B.J.; Galuska, M.; Gannaway, F.; Garc\\'ia, C.; Garc\\'ia-Navarro, J.E.; Gibson, M.; Gibson, S.; Gnanvo, K.; Godlewski, J.; Gonzalez, F.; Gonzalez-Sevilla, S.; Goodrick, M.J.; Gorfine, G.; Gorisek, A.; Gornicki, E.; Greenall, A.; Greenfield, D.; Gregory, S.; Grillo, A.A.; Grosse-Knetter, J.; Gryska, C.; Haddad, L.; Hara, K.; Harris, M.; Hartjes, F.G.; Hauff, D.; Hawes, B.; Hayler, T.; Haywood, S.J.; Heinemann, F.; Heinzinger, K.; Hessey, N.P.; Heusch, C.; Hicheur, A.; Hill, J.C.; Hodgkinson, M.; Hodgson, P.; Hollins, T.I.; Holt, R.; Homna, J.; Hora?iovsk?, T.; Howell, D.; Hughes, G.; Huse, T.; Ibbotson, M.; Ikegami, Y.; Ilyashenko, I.; Issever, C.; Jak\\'ubek, J.; Jackson, J.N.; Jakobs, K.; Jared, R.C.; Jarron, P.; Johansson, P.; John, D.; Jones, A.; Jones, M.; Jones, T.J.; Joos, D.; Joseph, J.; Jovanovic, P.; Jusko, J.; Jusko, O.; Kaplon, J.; Karagoz-Unel, M.; Ketterer, Ch.; Kody?, P.; Koffeman, E.; Kohout, Z.; Kohriki, T.; Kok, H.; Kondo, T.; Koperny, S.; Korporaal, A.; Koukol, V.; Kr\\'al, V.; Kramberger, G.; Kub\\'ik, P.; Kudlaty, J.; Kuilman, W.; Kundu, N.; Lacasta, C.; Lacuesta, V.; Lau, W.; Lee, S.C.; Leguyt, R.; Leney, K.; Lenz, S.; Lester, C.G.; Liang, Z.; Liebicher, K.; Limper, M.; Lindquist, L.E.; Lindsay, S.; Linhart, V.; Lintern, A.; Locket, C.; Lockwood, M.; Loebinger, F.K.; Lozano, M.; Ludwig, I.; Ludwig, J.; Lutz, G.; Maassen, M.; MacIna, D.; MacPherson, A.; MacWaters, C.; Magrath, C.A.; Malecki, P.; M; i?, I.; Mangin-Brinet, M.; Marshall, G.; Mart\\'i-Garc\\'ia, S.; Martinez-Mckinney, G.F.M.; Matheson, J.P.; McEwan, F.; McMahon, S.J.; McPhail, D.; Meinhardt, J.; Mellado, B.; Mercer, I.J.; Messmer, I.; Mikulec, B.; Miku?, M.; Mima, S.; Mistry, K.; Mitra, A.; Mitsou, V.A.; Modesto, P.; Moed, S.; Mohn, B.; Moles, R.; Moorhead, G.F.; Moreno, B.; Morin, J.; Morris, J.; Moser, H.G.; Moszczynski, A.; Muijs, A.J.M.; Munneke, B.; Murray, W.J.; Muskett, D.; Nacher, J.; Nagai, K.; Naito, D.; Nakano, I.; Nelson, C.; Nichols, A.; Nickerson, R.B.; Nisius, R.; Noviss, J.; Olcese, M.; O'Shea, V.; Oye, O.K.; Paganis, S.; Palmer, M.J.; Parker, M.A.; Parzefall, U.; Pater, J.R.; Pernegger, H.; Perrin, E.; Phillips, A.; Phillips, P.W.; Pieron, J.P.; Poltorak, K.; Posp\\'i?il, S.; Postranecky, M.; Pritchard, T.; Prokofiev, K.; Raine, C.; Ratoff, P.N.; Reitmeijer, A.; ?ezn\\'i?ek, P.; Richter, R.H.; Robichaud-V\\'eronneau, A.; Robinson, D.; Robson, A.; Rodriguez-Oliete, R.; Roe, S.; Rolfe, G.; R\\ovenkamp, J.; Runge, K.; Saavedra, A.; Sadrozinski, H.F.W.; Sanchez, F.J.; S; aker, H.; Schieck, J.; Schuijlenburg, H.; Siegrist, J.; Seiden, A.; Sfyrla, A.; Simm, G.; Slatter, J.; Slav\\'i\\'eek, T.; Smith, B.; Smith, K.M.; Smith, N.A.; Snippe, C.; Snow, S.W.; Solar, M.; Solberg, A.O.; Sopko, B.; Sopko, V.; Sospedra, L.; Southern, G.D.; Sowinski, M.; Spencer, E.; Spieler, H.; Stanecka, E.; Stapnes, S.; Stastny, J.; ?teckl, I.; Stodulski, M.; Strachko, V.; Stradling, A.; Stugu, B.; Sutcliffe, P.; Szczygiel, R.; Takashima, R.; Tanaka, R.; Tappern, G.; Tarrant, J.; Taylor, G.N.; Temple, S.; Teng, P.K.; Terada, S.; Thompson, R.J.; Thresher, N.E.; Titov, M.; Tovey, D.R.; Tratzl, G.; Tricoli, A.; Turala, M.; Turner, P.R.; Tyndel, M.; Ull\\'an, M.; Unno, Y.; Vickey, T.; Vacek, V.; Van Der Kraaij, E.; Van Ovenbeek, M.; Viehhauser, G.; Vu, C.; Villani, E.G.; Vu Anh, T.; Vossebeld, J.H.; Wachler, M.; Wallny, R.; Ward, C.P.; Warren, M.R.M.; Wastie, R.; Weber, M.; Weidberg, A.R.; Weilhammer, P.; Wells, P.S.; Werneke, P.; Wetzel, P.; White, M.J.; Wiesmann, M.; Wilmut, I.; Wilson, J.A.; Wolter, M.; Wormald, M.P.; Wu, S.L.; Wu, X.; Zimmer, J.; Zsenei, A.; Zhu, H.

Showing items 1-13 of 13  (1 Page(s) Totally)
1 
View [10|25|50] records per page