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機構	日期	題名	作者
國立成功大學	2023	Hot Carrier Injection Reliability of Fabricated N- and P-Type Multi FinFETs with Different TiN Stacks	Chen, Y.-L.;Yeh, W.-K.;Hsu, Hsu H.-T.;Chen, K.-H.;Lin, W.-C.;Yu, T.-H.;Chou, H.-T.;Godwin, Raj D.;Godfrey, D.

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