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臺大學術典藏 2020-06-11T06:17:47Z Suppression of surface recombination in CuInSe2 (CIS) thin films via Trioctylphosphine Sulfide (TOP:S) surface passivation Luo, S.;Eisler, C.;Wong, T.-H.;Xiao, H.;Lin, C.-E.;Wu, T.-T.;Shen, C.-H.;Shieh, J.-M.;Tsai, C.-C.;Liu, C.-W.;Atwater, H.A.;Goddard, W.A.;Lee, J.-H.;Greer, J.R.; Luo, S.; Eisler, C.; Wong, T.-H.; Xiao, H.; Lin, C.-E.; Wu, T.-T.; Shen, C.-H.; Shieh, J.-M.; Tsai, C.-C.; Liu, C.-W.; Atwater, H.A.; Goddard, W.A.; Lee, J.-H.; Greer, J.R.; JIUN-HAW LEE
臺大學術典藏 2018-09-10T15:33:14Z Suppression of surface recombination in CuInSe2 (CIS) thin films via Trioctylphosphine Sulfide (TOP:S) surface passivation Eisler, C.; Wong, T.-H.; Xiao, H.; Lin, C.-E.; Wu, T.-T.; Shen, C.-H.; Shieh, J.-M.; Tsai, C.-C.; Liu, C.-W.; Atwater, H.A.; Goddard, W.A.; Lee, J.-H.; Greer, J.R.; Luo, S.; CHEE-WEE LIU et al.
臺大學術典藏 2018-09-10T14:57:32Z Strength, stiffness, and microstructure of Cu(In,Ga)Se2 thin films deposited via sputtering and co-evaporation Luo, S.;Lee, J. H.;Liu, C. W.;Shieh, J. M.;Shen, C. H.;Wu, T. T.;Jang, D. C.;Greer, J. R.; Luo, S.; Lee, J. H.; Liu, C. W.; Shieh, J. M.; Shen, C. H.; Wu, T. T.; Jang, D. C.; Greer, J. R.; JIUN-HAW LEE; CHEE-WEE LIU
臺大學術典藏 2018-09-10T14:57:32Z Strength, stiffness, and microstructure of Cu(In,Ga)Se2 thin films deposited via sputtering and co-evaporation Luo, S.;Lee, J. H.;Liu, C. W.;Shieh, J. M.;Shen, C. H.;Wu, T. T.;Jang, D. C.;Greer, J. R.; Luo, S.; Lee, J. H.; Liu, C. W.; Shieh, J. M.; Shen, C. H.; Wu, T. T.; Jang, D. C.; Greer, J. R.; JIUN-HAW LEE; CHEE-WEE LIU

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