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机构	日期	题名	作者
國立交通大學	2014-12-08T15:15:37Z	Extraction of nitride trap density from stress induced leakage current in silicon-oxide-nitride-oxide-silicon flash memory	Gu, Shaw-Hung; Wang, Tahui; Lu, Wen-Pin; Ku, Yen-Hui Joseph; Lu, Chih-Yuan
國立交通大學	2014-12-08T15:14:59Z	Numerical simulation of bottom oxide thickness effect on charge retention in SONOS flash memory cells	Gu, Shaw-Hung; Hsu, Chih-Wei; Wang, Tahui; Lu, Wen-Pin; Ku, Yen-Hui Joseph; Lu, Chih-Yuan

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