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机构	日期	题名	作者
國立成功大學	2018	Anti-site defect effect on the electronic structure of a Bi2Te3 topological insulator	Chuang;Pei-Yu;Su;Shu-Hsuan;Chong;Cheong-Wei;Chen;Yi-Fan;Chou;Yu-Heng;Huang;Jung-Chun-Andrew;Chen;Wei-Chuan;Cheng;Cheng-Maw;Tsuei;Ku-Ding;Wang;Chia-Hsin;Yang;Yaw-Wen;Liao;Yen-Fa;Weng;Shih-Chang;Lee;Jyh-Fu;Lan;Yi-Kang;Chang;Shen-Lin;Lee;Chi-Hsuan;Yang;Chih-Kai;Su;Hai-Lin;Wu;Yu-Cheng

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