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机构 日期 题名 作者
國立臺灣大學 1991 Analytical Imaging with a Scanning Ion Microprobe 王玉麟; Levi-Setti, R.; Chabala, J. M.; Hallegot, P.; Girod-Hallegot, C.; Wang, Yuh-Lin; Levi-Setti, R.; Chabala, J. M.; Hallegot, P.; Girod-Hallegot, C.
國立臺灣大學 1989 Secondary Ion Imaging Microanalysis 王玉麟; Levi-Setti, R.; Chabala, J. M.; Girod, C.; Hallegot, P.; Wang, Yuh-Lin; Levi-Setti, R.; Chabala, J. M.; Girod, C.; Hallegot, P.
國立臺灣大學 1989 The Use of Focused Heavy-Ion Beams for Submicrometer Imaging Microanalysis 王玉麟; Levi-Setti, R.; Chabala, J. M.; Girod, C.; Hallegot, P.; Wang, Yuh-Lin; Levi-Setti, R.; Chabala, J. M.; Girod, C.; Hallegot, P.
國立臺灣大學 1989 Chemical Characterization of Electronic Microstructures with Sub-100 nm Lateral Resolution 王玉麟; Levi-Setti, R.; Chabala, J. M.; Hallegot, P.; Wang, Yuh-Lin; Levi-Setti, R.; Chabala, J. M.; Hallegot, P.
國立臺灣大學 1988 Chemical Characterization of Electronic Microstructures with Sub-100 nm Lateral Resolution 王玉麟; Levi-Setti, R.; Chabala, J. M.; Hallegot, P.; Wang, Yuh-Lin; Levi-Setti, R.; Chabala, J. M.; Hallegot, P.
國立臺灣大學 1988 High Resolution Ion Probe Imaging and Analysis 王玉麟; Levi-Setti, R.; Chabala, J. M.; Hallegot, P.; Wang, Yuh-Lin; Levi-Setti, R.; Chabala, J. M.; Hallegot, P.

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