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機構 日期 題名 作者
臺大學術典藏 2014 Effect of Asian dust storms on mortality in three Asian cities YUE-LIANG GUO; Lee, H. ; Honda, Y. ; Lim, Y.-H. ; Guo, Y.L. ; Hashizume, M. ; Kim, H.
國立臺灣科技大學 2013 Testable design for electrical testing of open defects at interconnects in 3D ICs Hashizume, M.;Konishi, T.;Yotsuyanag, H.;Lu, S.-K.
國立臺灣科技大學 2013 Reduction method of number of electromagnetic simulation times for estimating output voltage at hard open TSV in 3D IC Haraguchi, E.;Hashizume, M.;Manabe, K.;Yotsuyanagi, H.;Tada, T.;Lu, S.-K.;Roth, Z.
國立臺灣科技大學 2013 Built-in IDDT appearance time sensor for detecting open faults in 3D IC Suenaga, S.;Hashizume, M.;Yotsuyanagi, H.;Tada, T.;Lu, S.-K.
國立臺灣科技大學 2013 Fault scrambling techniques for yield enhancement of embedded memories Lu, S.-K.;Jheng, H.-C.;Hashizume, M.;Huang, J.-L.;Ning, P.
國立臺灣科技大學 2013 DFT for supply current testing to detect open defects at interconnects in 3D ICs Suenaga, S.;Hashizume, M.;Yotsuyanagi, H.;Lu, S.-K.;Roth, Z.
國立臺灣科技大學 2013 An efficient test and repair flow for yield enhancement of one-time-programming NROM-based ROMs Li, T.-L.;Hashizume, M.;Lu, S.-K.

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