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机构	日期	题名	作者
國立臺灣科技大學	2013	DFT for supply current testing to detect open defects at interconnects in 3D ICs	Suenaga, S.;Hashizume, M.;Yotsuyanagi, H.;Lu, S.-K.;Roth, Z.
國立臺灣科技大學	2013	An efficient test and repair flow for yield enhancement of one-time-programming NROM-based ROMs	Li, T.-L.;Hashizume, M.;Lu, S.-K.

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