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國立交通大學 2018-08-21T05:53:56Z Effect of charge quantity on conduction mechanism of high-and low-resistance states during forming process in a one-transistor-one-resistor resistance random access memory Wu, Cheng-Hsien; Chang, Ting-Chang; Tsai, Tsung-Ming; Chang, Kuan-Chang; Chu, Tian-Jian; Pan, Chih-Hung; Su, Yu-Ting; Chen, Po-Hsun; Lin, Shih-Kai; Hu, Shih-Jie; Sze, Simon M.

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