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机构	日期	题名	作者
淡江大學	2009-01	Substrate current enhancement in 65 nm metal-oxide-silicon field-effect transistor under external mechanical stress	Kuo, Y. J.; Chang, T. C.; 葉炳宏; Yeh, P. H.;Chen, S. C.; Dai, C. H.; Chao, C. H.; Young, T. F.; Cheng, Osbert; Huan, C. T.

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