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机构	日期	题名	作者
臺大學術典藏	2022-01-03T08:01:25Z	Refractive index, absorbance and thickness measurement of underlayer materials for the EUV lithography at 13.5-nm	Fu-Hsiu Kang; Grace.H. Ho*; Hok-Sum Fung; Huang-Wen Fu; Chia-Chun Hung; Jia-Han Li; JIA-HAN LI
國立交通大學	2014-12-12T02:11:42Z	專利技術與權利範圍分析--以薄膜電晶體液晶顯示器為例	黃文甫; HUANG Wen Fu; 劉尚志; Liu Shang Jyh
國立交通大學	2014-12-12T01:13:29Z	玻璃化旋光性層列型液晶合成與鑑定	黃文孚; Huang, Wen-Fu; 陳皇銘; Chen, Huang Ming

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