|
English
|
正體中文
|
简体中文
|
总笔数 :2815474
|
|
造访人次 :
27465437
在线人数 :
100
教育部委托研究计画 计画执行:国立台湾大学图书馆
|
|
|
"hwang jiunn ren"的相关文件
显示项目 1-6 / 6 (共1页)
1
每页显示[10|25|50]项目
| 國立交通大學 |
2017-04-21T06:49:39Z |
Electrical characteristic fluctuations in sub-45nm CMOS devices
|
Yang, Fu-Liang; Hwang, Jiunn-Ren; Li, Yiming |
| 國立交通大學 |
2017-04-21T06:49:09Z |
Novel strained CMOS devices with STI stress buffer layers
|
Chen, Hung-Ming; Hwang, Jiunn-Ren; Li, Yiming; Yang, Fu-Liang |
| 國立交通大學 |
2014-12-08T15:17:07Z |
Discrete dopant fluctuated 20nm/15nm-gate planar CMOS
|
Yang, Fu-Liang; Hwang, Jiunn-Ren; Chen, Hung-Ming; Shen, Jeng-Jung; Yu, Shao-Ming; Li, Yiming; Tang, Denny D. |
| 國立交通大學 |
2014-12-08T15:12:20Z |
Strained CMOS devices with shallow-trench-isolation stress buffer layers
|
Li, Yiming; Chen, Hung-Ming; Yu, Shao-Ming; Hwang, Jiunn-Ren; Yang, Fu-Liang |
| 國立交通大學 |
2014-12-08T15:11:24Z |
Discrete dopant fluctuations in 20-nm/15-nm-gate planar CMOS
|
Li, Yiming; Yu, Shao-Ming; Hwang, Jiunn-Ren; Yang, Fu-Liang |
| 國立交通大學 |
2014-12-08T15:08:33Z |
Characteristic fluctuation dependence on discrete dopant for 16nm SOI FinFETs at different temperature
|
Li, Yiming; Hwang, Chih-Hong; Yu, Shao-Ming; Huang, Hsuan-Ming; Yeh, Ta-Ching; Cheng, Hui-Wen; Chen, Hung-Ming; Hwang, Jiunn-Ren; Yang, Fu-Liang |
显示项目 1-6 / 6 (共1页)
1
每页显示[10|25|50]项目
|
