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机构	日期	题名	作者
國立臺灣大學	1987	Annealing and Radiation Effects on Al/Ta205/Si02/Si Capacitors	胡振國; Jeng, M. J.; Hwu, Jenn-Gwo; Jeng, M. J.
臺大學術典藏	1987	Annealing and Radiation Effects on Al/Ta205/Si02/Si Capacitors	Hwu, Jenn-Gwo; Jeng, M. J.; 胡振國; Jeng, M. J.; Hwu, Jenn-Gwo; Jeng, M. J.
國立臺灣大學	1986	Radiation Effects on the Oxide Properties of Silicon MOS Capacitor	胡振國; Lee, G. S.; Jeng, M. J.; 王維新; 李嗣涔; Hwu, Jenn-Gwo; Lee, G. S.; Jeng, M. J.; Wang, Way-Seen; Lee, Si-Chen

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