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机构	日期	题名	作者
國立成功大學	2012-05-28	The asymmetrical degradation behavior on drain bias stress under illumination for InGaZnO thin film transistors	Huang, Sheng-Yao; Chang, Ting-Chang; Lin, Li-Wei; Yang, Man-Chun; Chen, Min-Chen; Jhu, Jhe-Ciou; Jian, Fu-Yen
國立成功大學	2012	Thermal Effect on the Gate-Drain Bias Stress for Amorphous InGaZnO Thin Film Transistors	Huang, Sheng-Yao; Chang, Ting-Chang; Chen, Min-Chen; Chen, Shih-Cheng; Chen, Te-Chih; Jian, Fu-Yen

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